您好!
我目前正在处理 bq27742。 到目前为止、在 IC 解封时没有问题。 但是、当我尝试检查某个情形时、例如在更新数据闪存参数时、我故意移除了电池。 因此闪存未正确更新。 然后、我尝试使用 BQ Studio 拆封 IC。 但是、完全访问 unseal 命令不会起作用。 当我看到 FAS、SS 位仅为高电平时。 不会进入低电平状态。 您能不能建议任何解决方案、我如何进入解封状态。
谢谢、此致、
Kavya。
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我目前正在处理 bq27742。 到目前为止、在 IC 解封时没有问题。 但是、当我尝试检查某个情形时、例如在更新数据闪存参数时、我故意移除了电池。 因此闪存未正确更新。 然后、我尝试使用 BQ Studio 拆封 IC。 但是、完全访问 unseal 命令不会起作用。 当我看到 FAS、SS 位仅为高电平时。 不会进入低电平状态。 您能不能建议任何解决方案、我如何进入解封状态。
谢谢、此致、
Kavya。
解封(和完全访问)需要向量表写入两个连续字。 自动刷新可能会对此产生干扰。 请禁用自动刷新(单击仪表板左上角的绿线。 禁用自动刷新时、它将变为红色)。
等待4秒钟、让两个字命令状态机超时。
然后单击"取消密封"(这是第一步)。 检查 SS 是否为0 (单击 Refresh (刷新)以手动更新)。
然后单击 Unseal Full Access。 检查 FAS 是否为0 (单击“刷新”以手动更新)。
您好 Kavya、
如果在对 srec 进行编程时断电、则可能会导致数据损坏。 当数据不正确时(错误的指令闪存)、bq27742将无法预测。 我会把这个装置当作砖头对待。
请注意、如果您在另一台设备上尝试此操作、则可能会正常工作、因为存在防止此情况发生的防护措施、但只能执行很多操作。
我建议您尝试对 srec 重新编程几次。 如果成功、则您将恢复 bq27742。