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[参考译文] CSD19536KTT:VDS 钳位

Guru**** 2341440 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1128960/csd19536ktt-vds-clamp

器件型号:CSD19536KTT

大家好、团队、

我的一位客户在以下配置中使用来自竞争对手的100V MOSFET 并寻找替代电源。

它们在 电池的返回路径中具有多个并联的 MOSFET、如下所示、靠近电池。

极右端的负载通过长导线连接、因此显示了使用 Lwire-and Lwire+时的接线电感。

如果使用下图中的开关在负载上存在短路情况、则会在~40uS 下产生1500A 的巨大电感电流尖峰。

在此瞬态时间内、MOSFET 关断、但 VDS 波形看起来在电感反冲期间钳制在120V (尽管 MOSFET 额定值仅为100V)。 即使反复试验此类短路、它们也无法在此类情况下使 MOSFET 失效、尽管其额定电压超过100V。 它始终钳制在120V。

客户想知道、如果所有 MOSFET 都需要这种类型的钳位、或者 TI MOSFET 是否也会显示类似的钳位行为?

在这种情况下、通常需要在内部或外部使用一些额外的钳位来保护 MOSFET 吗?

请帮助澄清问题。

谢谢你。

-Mahendra

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Mahendra、

    感谢您向客户推广 TI FET。 一般而言、由于未钳位电感式开关、所有 MOSFET 在雪崩期间的性能都应相似、而 TI 也不例外。 VDS 将被钳位在大于 BVDSS 的电压下(最小100V)。 TI 测试并评价我们的 FET 的单脉冲雪崩能力。 由于我们无法保证可靠性、TI 不会规范或建议在重复雪崩条件下运行我们的 FET。 虽然 FET 最初可能不会发生故障、但重复雪崩会使性能下降到故障点。 我假设这仅在故障条件(负载短路)下发生、并不重复。 如果您有任何疑问、请告诉我。

    此致、

    John Wallace

    TI FET 应用

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    您好、Mahendra、

    有关 UIS/雪崩测试和规格的更多信息、请参阅以下链接。

    https://e2e.ti.com/blogs_/b/powerhouse/posts/fet-datasheets-demystified-part-1

    谢谢、

    John