大家好、团队、
客户认为使用的 TLV752的输出电容高于数据表建议的值。
目标输出电容为1500uF 陶瓷电容器。
从数据表中、我们可以假设输出 SS 将受两个电流限值的控制(如果 温度不触发热保护)、并且当 Vin 崩溃时输出电容放电可能是一个问题。
-使用 Vin-Vout 肖特基二极管时,如果 EN 连接到 Vin,这是否会使内部 FET 保持导通状态并最大限度地减少热冲击?
-高电容/低 ESR 是否是稳定性问题?
-否则是什么驱动 Coutmax 限制?
谢谢你
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大家好、团队、
客户认为使用的 TLV752的输出电容高于数据表建议的值。
目标输出电容为1500uF 陶瓷电容器。
从数据表中、我们可以假设输出 SS 将受两个电流限值的控制(如果 温度不触发热保护)、并且当 Vin 崩溃时输出电容放电可能是一个问题。
-使用 Vin-Vout 肖特基二极管时,如果 EN 连接到 Vin,这是否会使内部 FET 保持导通状态并最大限度地减少热冲击?
-高电容/低 ESR 是否是稳定性问题?
-否则是什么驱动 Coutmax 限制?
谢谢你
您好、Cosmin、
[引用 userid="8117" URL"~/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1044127/tlv752-maximum-output-capacitance-concerns "-使用 Vin-Vout 肖特基的 Bar、如果 EN 连接到 Vin、这是否会使内部 FET 保持导通状态并最大程度地降低热冲击?[/quot]您是指输入崩溃吗?
[引用 userid="8117" URL"~/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1044127/tlv752-maximum-output-capacitance-concerns "-高电容/低 ESR 是否是稳定性问题?这可能是一个稳定性问题。 我必须咨询设计人员以评估风险。
[引用 userid="8117" URL"~/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1044127/tlv752-maximum-output-capacitance-concerns "-否则是什么驱动 Coutmax 限制?[/quot]这可能有几个原因、这是我必须向设计人员提出的另一个问题。
此致、
Nick
您好、Nick、
我 不确定我是否理解:
如果 FET 导通、它会双向传导电流、因此如果 Vin < Vout 通过 RDSon 电阻、电流应返回到输入端
如果在 Vout>Vin+0.3V 时内在函数二极管导通、那么内在函数二极管会在0.3V 时导通?
通常 、据我所知、分立式 FET 的二极管在1V 左右导通
芯片上是否有单独的肖特基结构?
- 假设 存在外部肖特基二极管、LDO 是否稳定、电流为1500uF?
谢谢你
您好、Cosmin、
FET (此器件的 PMOS)的主体与源极相连、如功能方框图所示:

当以这种方式连接4端子晶体管时、它不会用作简单的电阻器。 当其漏极大于其源极电流时、不会通过通道、它将通过其体。
二极管的正向电压可能为0.7V - 1V。 大多数数据表指定 VOUT 的绝对最大值为 VIN + 0.3V。 在这种情况下、体二极管不会导通、但超过 VIN + 0.3V 可以将其导通。
我没有听到设计人员的反馈。 这是一个回答并非微不足道的请求、需要进行仿真才能确保。 当我有要共享的信息时、我将向您更新。
此致、
Nick