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https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1015573/tps61022-output-short-test
你(们)好。
在输出短路测试期间、IC 烧坏。 布局如数据表中建议的那样、我可以改进哪些方面来防止其燃烧？
此致、
Hirotsugu、您好！
从一瞥看、布局看起来不错。 您是否介意使用二极管模式并测试它是 HSFET 还是 LSFET 故障？ 另请分享此设计的原理图。 谢谢！
－文豪
您好、Wenhao、
模式为低电平。 发生故障后、SW 和 GND 短路。 由于原理图是保密的、我们将单独发送消息。
