[参考译文] CSD95372BQ5MC：X 射线分析揭示了一致的内部结构

尊敬的 Kevin：

我不确定我是否理解您的问题。 你认为这是不正常的，什么是“黄等级”？ 如果可能、您能否标记您认为可能有问题的领域？

唐英年先生

感谢您的回复、请检查 Pico、X 射线扫描显示芯片内的气泡、测试组织说：

X 射线分析揭示了一致的内部结构。 样本会在组件内部显示空隙。

他们 说、将该部件用于高频率设备会有风险。  

此部件是否由于内部有气泡而导致产品出现缺陷？

我的客户担心质量问题。 请提供建议。

此致

Kevin

尊敬的 Kevin：

X 射线图中的空隙 很可能是裸片连接空隙、这对于半导体器件很常见。 您显示的空隙实际上是两个 FET 裸片(HS FET 和 LS FET)加在一起 、因此对我来说似乎是可以的。  

我还将与我们的封装专家核实、以获取他的意见。 更新后、我会通知您。

谢谢唐英年，我会继续更新。

我仍在等待来自封装预期的评论、一旦收到、将更新。

唐英年先生

谢谢、我什么时候可以从包装中得到回复？ 请提供建议。

尊敬的 Kevin：

我们的专家正在研究您的问题、我们可能还需要几天的时间。 我将在收到响应时进行更新。

感谢唐英年的工作