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器件型号：LM63625-Q1 主题中讨论的其他器件： LM61460
大家好、
我们使用的是"LM63625-Q1"芯片。 我们需要在我的终端客户的测试项目下执行以下操作。
测试项目是0V-14V 输入 Vin、Iload = 0A、我们不在芯片输入侧放置任何输入电容。 我们发现 LM63625-Q1在上电时损坏。 损坏行为：内部 H/S MOSFET 短路、Vin = Vout。
我们可以预期芯片运行异常、但我不知道当时为什么 IC 损坏、因为我们的 ILOAD = 0A、这意味着电源线(30cm)中的 L (di/dt)影响很小。
您能不能帮助解释一下芯片目前损坏的原因？
此外、我们在相同条件下测量了 LM61460、但 LM61460未损坏。
您能告诉我哪个参数可以判断芯片是否损坏？
此致、
罗伊
