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[参考译文] BQ24725A:供电时 ACFET 损坏

Guru**** 2378650 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ24725A, CSD17307Q5A
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/977901/bq24725a-acfet-damage-when-powering

器件型号:BQ24725A
主题中讨论的其他器件: CSD17307Q5A

大家好、

我有一个 BQ24725A 定制板、目前我遇到设置问题。 问题就像 在定制 BQ24725A 电路板上电时、ACFET (参考电路板中的 Q1)损坏。 我想知道可能的原因是什么?

请提供任何帮助。

在这里、我要连接原理图、我使用的原理图与 BQ24725A 评估板类似

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    您好、Eldho、

    我已经查看了您的原理图。 以下是我注意到的与 EVM 原理图相比的差异:

    1. BATFET 将0.1uF 电容从栅极连接到 GND、而不是从栅极连接到 BAT (与 EVM 类似)。
    2. 没有二极管允许电池为 VCC 供电。
    3. 您已将0.1 μ F 电容器从 SRP 填充到 GND、而它是 EVM 上的 DNP
    4. 不同的 ILIM 引脚电阻分压器值
    5. 在 IOUT 引脚上添加了电阻分压器

    是否可以更正1)、并确认2)是故意的? 我认为我们不需要担心3)、4)和5)。

    此外、您能否详细说明导致 ACFET 损坏的上电顺序? 例如、当您插入20V 适配器时、是否会发生损坏? 在适配器插件期间是否连接了电池或系统负载? ACFET 损坏症状是什么?

    此致、

    Angelo

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    您好、Angelo、

    很抱歉耽误你的回答。 请从我们的一方找到答复。

    1)我们将在下一版原理图中更正第1点和第2点。

    2)在插入20V 适配器后,就会发生损坏。

    3)当时系统未连接负载或电池。

    4)损坏后发现 ACFET 短路。

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    您好 Hari、

     

    感谢您提供相关信息。 原理图的输入 FET 部分看起来正确、与 BQ24725A EVM 匹配。 您能否在插入20V 适配器的同一图形上捕获显示 VCC_20V、ACDRV、CMSRC 和 ACP 的波形? 这将向我们显示插入适配器时 ACFET 和 RBFET 的栅极、源极和漏极电压。

     

    如果您可以在 BQ24725A EVM 上捕获相同的波形、这样我们就可以比较结果。 EVM 将帮助确定问题是与电路板相关还是与测试设置相关。

     

    此致、

    Angelo

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    您好、Angelo、

    我将附上包含所请求波形的 pdf 链接。

    请检查并告知我们您的意见。

    波形

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    您好 Hari、

     

    感谢非常清晰的波形。 此适配器插入测试后、您自己电路板上的 ACFET 是否立即损坏/短接、但 EVM 上的 ACFET 正常? 换句话说、我们是否确定波形中显示的事件是什么损坏了 ACFET?

     

    在这个时间刻度上、除了 EVM 上较慢的 VCC 斜坡外、您自己电路板和 EVM 的加电波形看起来几乎完全一样。 您能否在两个电路板上捕获相同的波形、但在 ACDRV、CMSRC 和 ACP 的上升沿非常接近地放大? 我想检查您的电路板是否短暂超过了 ACFET 的绝对最大 Vgs 额定值、并将波形与我们的 EVM 进行比较。

     

    此致、

    Angelo

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    您好、Angelo、

    我们在 ACP 引脚上观察到负电压尖峰。 (-9.4 V)。

    发生这种情况后 、FET 会损坏。

    新波形

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     您好、Angelo、

    您可以检查并更新它吗?

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    您好 Hari、

     

    此波形是在插入20V 适配器且未连接电池或系统负载后得到的、对吧? 测试完成后、ACFET (原理图中的 Q2)是否损坏、但 RBFET (Q3)仍然正常?

     

    您能否在 EVM 和您自己的电路板上捕获显示 VCC、ACDRV、CMSRC 和 ACP 的更放大波形、以便我们进行比较? 我想更详细地查看 ACP 负电压尖峰。

     

    此致、

    Angelo

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    您好、Angelo、

    我们捕获了更多显示电路板和 EVM 上的 VCC、ACDRV、CMSRC 和 ACP 的放大波形。

    在 我们的设计中将 CSD17307Q5A 用作 ACFET 时、如在 EVM 中一样、我们的板中 ACP 中出现负尖峰、并在粉末之后立即损坏。

    此外、我们还使用额定值更高的 MOSFET SIR184DP-T1-RE3尝试了硼、发现负尖峰消失、MOSFET 未受损。

    在这两种情况下、只有更改的部件是 MOSFET。 我将最新的波形与一起附加、请检查并更新。

    波形2.

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    您好 Hari、

     

    感谢您捕获波形。 由于原理图的输入 FET 部分与 BQ24725A EVM 匹配、因此我不确定为什么使用相同的 CSD17307Q5A FET 会导致电路板上的 ACFET 损坏。

      

    但是,我看不到任何有关更改为更高额定 MOSFET 的问题。 波形看起来正常、额定值较高的 MOSFET 似乎已经解决了该问题。

     

    此致、

    Angelo