[参考译文] BQ25606：关于 BQ25606的充电操作

很抱歉、图片上传不正确、因此我将重试。

您好！

您是否测量了 VBUS 引脚上的 VBUS 电压？

谢谢、

宁。

您好！

是的。

我之所以使用它、是因为它具有 VBUS 测试点。

测试点直接连接到 BQ25606的 VBUS 引脚。

您好！

除了电池、是否有任何其他负载连接到 SYS、PMID 等？

谢谢、

宁。

很抱歉耽误你的回答。

是的。
SYS 和 PMID 也被连接。

我怀疑电路板上的热敏电阻是原因、当我移除热敏电阻并测量充电电流时、这种现象消失了。
但是、我再次连接热敏电阻并对其进行测量、但无法重现这种现象。

电路板上的热敏电阻为 NTCS0603E3103FLT。

所以我想问一个问题、这个 IC 有一个功能来限制充电电流的温度、但是我认识到当电池冷却时、它是有限的。
充电电流是否即使在温度升高时也会受到限制？

很抱歉耽误你的回答。

感谢您提供有关 JEITA 特性的详细信息。

除温度或热敏电阻之外、是否还有其他可能的原因？
充电电流的振幅在大约5秒的周期内出现。

如果您需要电路图或图案、请联系我们。
我将由 DM 发送。

此致。

你(们)好，宁

感谢你的答复。

①关于 STAT 引脚输出
STAT 引脚输出在充电完成前为低电平、感谢您的回复。

①关于 STAT 引脚输出
当这种现象发生时、STAT 引脚不会闪烁并继续输出低电平。 该线程中的图形还显示了 STAT 引脚输出。

(2)输入源过载和输入电流限制值
我很抱歉。 我忘记了可以作为输入源提供多少 A。 但是、如果您查看该图、可以看到在前两个半小时内可以稳定地提供2A 电流。

另一个测量结果表明、它可以在2A 电流下连续充电。
因此、我认为输入侧没有负载。

此外、在不将负载连接到 VSYS 侧的情况下执行测量。 空载状态。

输入电流限制和充电电流限制如下。
IINDPM：2.5A (RLIM：200Ω Ω)
ICHG：2.0A (RCHG：332Ω Ω)

您好！

我们正在进行这项工作、并将很快返回给您。

谢谢、

宁。

您好！

您提到了仅在连接热敏电阻时才会发生这种行为。 您是否在充电过程中监测过 VTS (TS 引脚电压)和 VREGN (REGN 引脚电压)以及 VTS/VREGN？

谢谢、

宁。

很抱歉、我没有测量这种现象发生的时间。

我再次连接热敏电阻并测量 VTS、但无法重现这种现象。

我想知道这种现象与上次发生的情况有何不同、但我不知道。