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器件型号：BQ78PL116 主题中讨论的其他器件： BQ40Z50
您好！
我们在采用4S1P 配置的产品上使用 BQ78PL116。 现在、我们正在进行过充电测试以符合 UN38.3。
在过充电测试中、观察到的是充电 FET 故障、要在执行基准测试时分析此故障、BQ 电池电压测量值的电压大于4.5V。
充电 FET 每2秒切换一次。 当我施加28V 的充电电压(实际建议充电电压为14.4V、根据 UN38.3、应施加两倍建议充电电压)时、BQ IC 出现故障。
是否有办法针对这些过压条件保护 BQ IC、以及在为过充电测试施加高电压时、我们如何避免切换充电 FET。
