[参考译文] UCD9090-Q1：UCD9090-Q1在温度范围内保持数据

你好

存储在闪存存储器单元中的电荷会随着时间的推移而降低、并且在扩展温度下会以更快的速度降低。 该降级已建模为遵循 阿累尼乌斯方程、并随着温度升高而呈指数级降级。

UCD9090-Q1的闪存已通过数据保持存储寿命测试。  根据计算得出、25°C 时的寿命为100年。

温度越高、保持寿命就越短。

下面是一个文档来解释温度如何影响 MSP430内部闪存的保持寿命、这与 UCD9090-Q1不完全相同。。这只是为了让您参考保持寿命如何根据温度变化。

https://www.ti.com/lit/pdf/slaa392 

此致

Yihe

您好！

我查看了您刚才提到的文档、但它并未真正正确地回答问题、因为它涉及在 MSP430上执行的加速测试。

我发现、您不提供器件在器件工作范围内的保留信息会让人有点麻烦。

我们正在为航空领域设计设备、我们必须确保保留日期、以便在保留时间低于飞行时间时定义计划维护。

我已经为您的另一个组件要求了类似的信息、我得到了明确的价值：
https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/c2000/f/c2000-microcontrollers-forum/960889/tms320f28386d-data-retention-above-tj-85-c/3550405#3550405

此致、

克莱蒙特

你好

UCD9090的数据保持规格基于在150C 下1000小时的鉴定应力测试。 如果您遵循 阿累尼乌斯方程、则数据保留寿命在高达 TJ 125C 时小于1年。

结果与共享应用手册中的数据非常相似。  

此致

Yihe

您好！

对于面向汽车市场的组件、不足一年的时间对我来说似乎是一种反常现象。

当然、我们不会处于最高结温、但我们直升机的任务剖面很宽、因此我们必须考虑最坏的情况、例如我们的100°C。

不过、从 MSP430的报告中可以看到、使用更高的烘烤温度时、结果要好得多。

因此、基本而言、当我看到这份报告或 TMS320F28386D 的答案时、我的理解是、在较高温度下保持 UCD9090的效果要比您提供的数据好得多。 您从未在较高温度下对器件进行过鉴定测试，以提供更准确的结果？

此致、

克莱蒙特