主题中讨论的其他器件： BQSTUDIO、 GPCCHEM、 GPCRB
TI 专家祝您愉快。
我已经执行了一个测试来确定电量监测计在何时被用来检测电池组的 EOS 时的不确定性。 我正在进行的这项测试是在较旧的一篇文章 中开发和讨论的：https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1003738/bq35100-eos-impedance-measurements-with-wrong-results/3722064?tisearch=e2e-sitesearch&keymatch=%20user%3A484197#3722064
在上一次测试中、我获得了以下结果：
－SOH 总是以相同的速率下降。 基本而言、我从未从中获得准确的值。 我通过 LS 14500 Saft 电池为正确的化学 ID 充电。 基本上、每个周期都会下降到我在 SOH 最大 Δ%上设置的%。
-开始时、所有测量值或多或少都与 Ra 表一致、但在 EOS 趋势检测计数达到阈值后、给出了 EOS 警告、测量结果完全为奇数。
-另外一个奇怪的结果、短期和长期平均值已经被分离足够使 EOS 标志在实验的早期被发出。
-标志 SOH_Merit 几乎始终存在。 我无法摆脱它。
您可能会看到、实验结果不好。
我们想再做一次实验、但这次我们想知道我们在前一个实验中做了哪些错误。 我们的设置很简单：评估板将一些电阻器作为负载、测量2节 3.6V 的电池(Saft LS14500)。
我们将其用作学习脉冲、深度放电流为45mA、持续2分钟。 每5小时进行一次测量、有时会有10小时的剩余时间。 每5次测量后、我们提供2小时的深度放电、以降低电池容量、并在电池阻抗开始变化时更密切地观察。
此外、对于我们来说、BQ35100存在一些不明确的因素：
1) 1)什么是长期和短期滤波器？ 任何 TI 文档中都没有具体说明、但这些似乎与长期和短期平均值的计算有关。 这在哪里应用？ 我们可以修改这些参数吗？ 是否必须对它们进行调整以获得更好的性能？
2) 2)阻抗测量是否会因 DF 上的更改而受到影响？ 在实验过程中、我学习了如何从电量监测计读取原始数据、然后器件突然开始运行异常、并且提供了比以前更低的阻抗值(电池应该只有20%的电量)。
3) 3)应该进行多少次测量来获得长期和短期平均值的可靠值？
4) 4) EOS 趋势检测%和 Thrshld 的分配值是多少？
5) 5)脉冲应持续多长时间、该脉冲的放电深度应达到多深？ 我使用了一个2分钟长的学习脉冲、该脉冲将电池压降约500mV。
6) 6)如何计算阻抗？ 我想知道这是如何完成的、因为我想将获得的测量值与我自己的计算值进行比较。
7) 7) 如何测量 OCV 值？
8) 8) OCV 在阻抗计算中的作用是什么？
9) 9)"SOH_Merity"误差是否可能会影响我的测量？
10) 10)如何使 SOH 更精确？ 我已经了解到、如果我提供自己的 Ra 表、则会根据系统上的电池行为方式对其进行更多调整。 (在此帖子中： BQ35100：在 EOS 中使用 BQ35100 (有关非密封访问、Ra 表、SOH、R 数据秒的问题)-电源管理论坛-电源管理- TI E2E 支持论坛 )
如果您需要更多详细信息、请告诉我、以便我向您提供这些信息。
