大家好、
客户正在设计 TLV62585。
TLV62585采用 SOT-5X3和 VQFN 两种封装、
请问哪种封装的效率更高? 哪种封装具有更好的热性能?
BR、
SHH
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您好 SHH、
我在这篇文章中附加了两个 Webench 仿真。 QFN 封装的效率为88.4%、而 SOT 的效率为88.1%(效率见文档第5页)。
对于热性能、我将深入了解它、并尽快返回给您。
谢谢、
Zain
您好 SHH、
您能否提及您的主要关注点? 也许我可以帮助您回答您的需求。
两种封装的效率似乎非常相似。 就热性能而言、每个热阻都基于不同的测试、这些测试在随附的文档中进行了定义。 一般而言、我们认为结点到外壳和结到电路板是常用的热性能指标、因此 QFN 封装应具有更好的热性能。
我希望这能回答你的问题,并期待你的答复。
此致、
Zain
您好 SHH、
请查看我的以下评论:
为什么 QFN 比 SOT 具有更高的效率? 芯片芯片应该是相同的。 我很困惑。
根据仿真结果、QFN 和 SOT 的效率差异仅为0.3%、效率值的这一大容差是可以接受的。 可以放心地假设两种封装的效率相同
2.为什么 QFN 封装的环境到外壳电阻大于 SOT 封装? 我认为、较大的环境到外壳电阻意味着更差的温度性能。
如此处突出显示
您是正确的、电阻越大、温度性能越差。 并且 I 臂架校正后、SOT 封装根据结至外壳和结至电路板电阻具有更好的热性能。 另请参阅随附的本文、其中讨论了 SOT 封装的出色热性能。 e2e.ti.com/.../SOT-Thermal-Performance.pdf
为什么 RJA 和 RJC 不一致?
如前所述、根据之前的答复中随附的文档、这两个测试是使用不同的设置执行的。 一般来说、RJC 和 RJB 是根据我们的器件设计的、被认为更可靠。 另一方面、RJA 基于标准行业测试、仅用于比较不同器件(假设测试设置和条件符合行业标准)
希望这些信息对您有所帮助。
此致、
Zain Riaz