[参考译文] TPS2373：TPS2373的问题

你好 、Jimmy、

我是否可以了解有关您的测试的更多信息？ 您是否使用了 CAT5电缆？ Cdet 是 25k 检测电阻器上的蠕动电容吗？ 0.09和0.18的单位是多少？

在802.3BT 标准下、最小抑制特征电容(C_BAD)为10uF、 最大接受特征电容(C_Good)为0.15uF。 PSE 可以在 C_Good max 和 C_Bad min 之间的频带中接受或拒绝并联特征电容

此致、

Diang

尊敬的 Diang：

感谢您的大力支持！

1. 使用 CAT5 UTP 电缆，电缆直径约为0.09uF (通过值)。
2. 使用 CAT5 STP 电缆、Cdet 约为0.18uF (故障值)。
3. 下端的坐浴盆为24.9k Ω。
4. Cbad 和 CGood Value。 我只能按如下方式对 PSE 报告的关键工作进行微调。 在 PSE 报告中，我找不到 C_BAD 是10uF，(C_Good)是0.15uF。 我认为 CBAD 和 CGood 是 PSE 而非 PD。

客户使用  STP (屏蔽双绞线)测试信号、结果 失败。 但  使用 UTP (非屏蔽双绞线)测试 sifos， 结果 通过。

您知道原因吗？ 非常感谢！

非常感谢、

Jimmy

尊敬的 Diang：

感谢您的大力支持！

已使用经过测试的电缆：50cm、1m、5m、
50cm 屏蔽电缆(STP)测量的电缆转盘值：0.18~0.21nF
1M 屏蔽电缆(STP)测量 Cdet 值：0.19nF~0.21nF
5m 屏蔽电缆(STP)测量值：0.02~0.18nF

50cm 非屏蔽电缆(UTP)测量的 Cdet 值：：0.09nF
1M 非屏蔽电缆(UTP)测量电缆的电缆值：0.09nF

现在、为了通过该测试项目、我们已要求 IEEE 使用 UTP 电缆进行测试。
请注意。

非常感谢、

Jimmy

尊敬的 Diang：

尽管 IEEE 使用 UTP 线路进行测试、
但我不知道这是否符合规范。
为什么在使用 UTP 和 STP 之间存在如此大的差异、

如果我对 Cdet 进行微调、应该使用哪条线进行调整？
此外、其他 IC 是否也存在这种现象？
希望有一个规格。

非常感谢、

Jimmy

你好、Jimmy、

希望我能正确理解您的问题。

在 IEEE 标准802.3bt 中、检测电容应小于0.15uF。 但该标准不包括以太网的电容要求。 此处最长的电缆为100m。

100m 电缆的互电容在 ANSI/TIA-568-C.2和 ANSI/TIA-568-b 中定义、对于100m CAT5e、6、6a 电缆、这两种电缆具有最大的5.6nF。 而 Cdet 则考虑电容或4对(PR12、PR36、PR45、PR78)、接头和端口、 PCB 组件的寄生电容以及一些专用去耦 电容器(通常总共为0.1uF)。 因此、它可能更复杂、除了 CGood 和 Cbad、我 不确定 Cdet 是否符合标准。  

下面的链接提供了屏蔽电缆和非屏蔽电缆的一些信息。 金属箔编织层可能会提供额外的寄生电容：

https://www.blackbox.co.uk/gb-gb/page/28627/Resources/Technical-Resources/Black-Box-Explains/Copper-Cable/Shielded-vs-unshielded-cables

此致、

Diang

尊敬的 Diang：

非常感谢您的大力支持！

当客户使用 STP 电缆时，是否有任何问题？ 贵公司是否使用 STP 测试了演示板？
是否有任何方法可以找出此屏蔽电缆问题的根本原因？

非常感谢、

Jimmy

你好、Jimmy、

我想我们以前使用过屏蔽以太网电缆。 到目前为止、我没有听到以太网电缆的电容导致的任何检测问题。

根据  ANSI/TIA-568-C.2和 ANSI/TIA-568-b、100米时的5e、6和6A 互电容应小于5.6nF 如果电缆符合 上述标准、则其网络应会导致 Cdet 的电容大幅增加。  

我注意到、有一个双向齐纳二极管与47nF 电容器并联。 通常需要正常的齐纳/TVS 二极管(即 TPS23730EVM-093中使用的是 SMBJ58A-13-F)。  该二极管也可能会导致 Cdet 问题。

此致、

Diang

你好、Jimmy、

希望您的问题已经解决。 如果您有任何更新、请告诉我。  

似乎问题可能是由以太网电缆的差异引起的。 如果您对 PD 侧没有进一步的问题、我将在最近关闭该主题。  

此致、

Diang