尊敬的团队:
客户在调整坐浴盆时遇到一些问题:
具有屏蔽的电缆将影响 Cdet 的测量结果、
使用 UTP 和 STP 电缆测量的值将不同。
现在添加47nF 并用 UTP 测量它:0.09
由 STP (屏蔽双绞线,STP):0.18 (故障)、
如何解释这一点?
调整后的标准是否指定要使用的电缆类型?
非常感谢、
Jimmy
非常感谢、
Jimmy
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尊敬的团队:
客户在调整坐浴盆时遇到一些问题:
具有屏蔽的电缆将影响 Cdet 的测量结果、
使用 UTP 和 STP 电缆测量的值将不同。
现在添加47nF 并用 UTP 测量它:0.09
由 STP (屏蔽双绞线,STP):0.18 (故障)、
如何解释这一点?
调整后的标准是否指定要使用的电缆类型?
非常感谢、
Jimmy
非常感谢、
Jimmy
你好 、Jimmy、
我是否可以了解有关您的测试的更多信息? 您是否使用了 CAT5电缆? Cdet 是 25k 检测电阻器上的蠕动电容吗? 0.09和0.18的单位是多少?
在802.3BT 标准下、最小抑制特征电容(C_BAD)为10uF、 最大接受特征电容(C_Good)为0.15uF。 PSE 可以在 C_Good max 和 C_Bad min 之间的频带中接受或拒绝并联特征电容
此致、
Diang
尊敬的 Diang:
感谢您的大力支持!
客户使用 STP (屏蔽双绞线)测试信号、结果 失败。 但 使用 UTP (非屏蔽双绞线)测试 sifos, 结果 通过。
您知道原因吗? 非常感谢!
非常感谢、
Jimmy
尊敬的 Diang:
感谢您的大力支持!
已使用经过测试的电缆:50cm、1m、5m、
50cm 屏蔽电缆(STP)测量的电缆转盘值:0.18~0.21nF
1M 屏蔽电缆(STP)测量 Cdet 值:0.19nF~0.21nF
5m 屏蔽电缆(STP)测量值:0.02~0.18nF
50cm 非屏蔽电缆(UTP)测量的 Cdet 值::0.09nF
1M 非屏蔽电缆(UTP)测量电缆的电缆值:0.09nF
现在、为了通过该测试项目、我们已要求 IEEE 使用 UTP 电缆进行测试。
请注意。
非常感谢、
Jimmy
你好、Jimmy、
希望我能正确理解您的问题。
在 IEEE 标准802.3bt 中、检测电容应小于0.15uF。 但该标准不包括以太网的电容要求。 此处最长的电缆为100m。
100m 电缆的互电容在 ANSI/TIA-568-C.2和 ANSI/TIA-568-b 中定义、对于100m CAT5e、6、6a 电缆、这两种电缆具有最大的5.6nF。 而 Cdet 则考虑电容或4对(PR12、PR36、PR45、PR78)、接头和端口、 PCB 组件的寄生电容以及一些专用去耦 电容器(通常总共为0.1uF)。 因此、它可能更复杂、除了 CGood 和 Cbad、我 不确定 Cdet 是否符合标准。
下面的链接提供了屏蔽电缆和非屏蔽电缆的一些信息。 金属箔编织层可能会提供额外的寄生电容:
此致、
Diang
你好、Jimmy、
我想我们以前使用过屏蔽以太网电缆。 到目前为止、我没有听到以太网电缆的电容导致的任何检测问题。
根据 ANSI/TIA-568-C.2和 ANSI/TIA-568-b、100米时的5e、6和6A 互电容应小于5.6nF 如果电缆符合 上述标准、则其网络应会导致 Cdet 的电容大幅增加。
我注意到、有一个双向齐纳二极管与47nF 电容器并联。 通常需要正常的齐纳/TVS 二极管(即 TPS23730EVM-093中使用的是 SMBJ58A-13-F)。 该二极管也可能会导致 Cdet 问题。
此致、
Diang