您好、E2E、
问题如下:
数据表将"IOH"定义为灌电流、但为正;将"IOL"定义为拉电流、但为负。 为什么我认为这两种情况是混合的?
通常、当我们说拉电流时、它是流入外部的正电流;当我们说灌电流时、它是流入内部的负电流。 请帮助指出我的错。
2.当我们讨论高/低电平 I/O 时,为什么我们需要同时定义特定的"IOH"值?
这是否意味着、如果 LOAD 为轻("IOH"为低电平)、阈值将发生变化?
3.如果我想测试 I/O 的动态负载能力(例如检查方波的边沿时序),您是否有任何电路建议?
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您好、E2E、
问题如下:
数据表将"IOH"定义为灌电流、但为正;将"IOL"定义为拉电流、但为负。 为什么我认为这两种情况是混合的?
通常、当我们说拉电流时、它是流入外部的正电流;当我们说灌电流时、它是流入内部的负电流。 请帮助指出我的错。
2.当我们讨论高/低电平 I/O 时,为什么我们需要同时定义特定的"IOH"值?
这是否意味着、如果 LOAD 为轻("IOH"为低电平)、阈值将发生变化?
3.如果我想测试 I/O 的动态负载能力(例如检查方波的边沿时序),您是否有任何电路建议?
好的、那么方向意味着流入 IC 的电流、而不是流出。
实际上、我说对于 IOH 的不同负载电流(即使它们非常低、但100uA 必须与4mA 不同)、高电压和低电压电平将发生变化、对吧?
这取决于内部 PMOS+NMOS 电气特性、正如我的理解所示。
3.同意、但再说一次、100uA 和4mA 将有所不同。 这就是我要求它的原因。
例如、从时序角度而言、发送 PWM 以驱动光耦合器与驱动数字隔离器完全不同。 负载电流和有效输入电容都不同。