您好！
现在、我们需要测试 N-FET (Q1、如下所示)的稳健性、并尝试对其执行一些应力(短路)测试。 测试步骤是、
此时、我们观察到持续时间为~1ms 的11~13A 电流尖峰、每1.3秒周期性触发一次、如下所示。
由于内部1.3秒时间过长、因此 FET 温度上升得不够高。 我们是否有任何方法可以将1.3秒的间隔缩短到大约150ms？ 或者您有更好的建议来故意损坏 FET？
我们已尝试将0x37[12](主输入的 ACOK 去毛刺脉冲时间(ACOK_DEG)设置为“0” ，如下所示，但似乎没有发生任何变化。 请帮助我们澄清问题。
安东尼
您好！
我们发现它在7次之后没有闭锁、并且 ACDET<2.4V。 在尝试将 ACOK 抗尖峰脉冲时间配置为150ms (0x37[12]=0)后、行为似乎没有如下所示发生变化、 您是否知道为什么不发生150ms？
谢谢！
安东尼
您好、Steve、
我们按如下方式添加一个模式信号(Vcc)测量值、以确保芯片在每次出现骤降时是否进入 POR。 如下所示、Vcc 将降至约5.3V、因此 0x37[12]的设置不应恢复为默认值(1.3sec)。 但我们仍然不知道为什么两个骤降之间的内部电压仍然为1.3s、即使我们已将 0x37[12]配置为150ms。 同时、每次下降时、ACDET 将下降至大约2.2x V。
另一个问题是 、0x37[12]用于定义 ACOK 的抗尖峰脉冲时间。 我无法将该寄存器定义直接链接到我们现在看到的行为(对应于此测试中连续两次骤降的间隔)。 数据表中是否未提及某些特定设计？
谢谢！
安东尼
您好、Anthony、
这是我在 EVM 上获得的结果。 我运行了两个测试。 在第一个中、我将其称为"弱适配器"、我在 适配器的电源上设置20V、100mA、并在具有 ELOAD 的 SYS 上灌入200mA。 这会强制适配器降至 ACDET 2.4V 阈值以下并断开连接。 在 ACOK 去毛刺脉冲时间(0x37[12])设置为150ms 后、我将得到间隔为150ms 的重复尝试、该尝试将一直持续：
然后、在不更改设置的情况下、我运行了第二个实验、其中我将 ACDRV 短接至 CMSRC。 这会导致它无法打开。 您可以看到、第一个延迟是150毫秒、但之后每个延迟是1.3秒。 它尝试启动7次、然后闭锁。
由于您的测试用例与这两个测试中的任何一个不匹配、我有点困惑。 您能否尝试连接、验证是否在没有锁存的情况下尝试至少10次、然后在之后读取寄存器设置以验证 REG0x37[12]是否仍然设置为0b (150ms 抗尖峰脉冲？) 我唯一能想到的是、如果 REG0x37[12]以某种方式复位、它将无限期地以1.3秒的间隔继续运行。 我知道您正在捕获 VCC、但您能否读取寄存器值进行验证？ 此外、如果您没有使用电池运行这些测试、则使用电池可能是合理的、这样就不会出现功率损耗、从而重置寄存器设置。
此外、如果您可以以4毫秒的时间范围放大其中一个尝试、则可能有助于我们了解导致其中止的尝试中发生的情况。 如果您可以显示 ACDRV、CMSRC、VADPT、ACDET、我们应该能够确定它是从 ACDET 断开还是从失败的导通状态断开。 (请将 ACDRV 和 CMSRC 与相同的偏移对齐、以便很容易看到差异 ACDRV-CMSRC 和/或使用示波器数学或差分探头。)
此致、
Steve
