主题中讨论的其他器件:BQ78350、 BQ76940、 TIDA-00792
您好!
我们正在测试我们的设计。 测试期间硬件失败。 电池组上的受控短路测试期间、一个(两个中的一个) MOSFET 出现故障。 栅极、源极和漏极都短接在一起。
我们 使用两个并联的 NVMFS6H824NT1G (Q4和 Q5)。 移除损坏的 MOSFET (Q4)后、我们可以再次控制输出、因此 BQ76200看起来不会损坏。 我们将 BQ76200与 BQ76940和 BQ78350结合使用。 这是我们使用的配置文件: https://jasa8.dyndns.org/s/WtfRwn59DjbqS39
可能过流会使 MOSFET 死机、但我想他们应该能够为 µs 的几个猎头处理它? 我们的超时是长还是应该降低 treshold? 或者问题是否与其他问题相关?
此致、
1月