大家好、我们在 BQ27010中遇到了注册表损坏的问题、我们认为这可能是由工作环境中引入的 HDQ 线路上的杂散射频引起的。 我们的(1S1P)电池组在高射频环境下工作、最近我们退回了电池组、这似乎在一段时间后会产生损坏的注册表值(婴儿死亡率、抵达时不会出现缺陷)。 有缺陷的电池有两种症状：
电池已充满电、但无法与主机建立通信。
2. 电池已充满电，可以建立通信，但一些登记册条目的值已损坏。
对于不进行通信的电池、通过移除中断电源来强制进行复位可解决问题并恢复通信。
对于仍然可以通信的电池、提供复位恢复功能。 恢复的电池上的循环测试不显示任何注册表损坏或异常。
工作原理是在一段时间内出现损坏、直到损坏阻止电池进行通信。
一些注册表似乎更容易损坏。38节电池的样本显示：
注册表 计数 注册表说明
周期 21 周期计数无效、按几个数量级
LMD 15 LMD 无效、按几个数量级排序
NAC 15 NAC 无效
GPIEN 5 指示通用 I/O 引脚作为输入启用-此电池不正确
PRST 2 部分复位–用于制造期间。
其他 2 其他注册表项已更改
WRTNAC 1 向 NAC 写入新值的命令-不应置位
该电池使用相同配置已有多年。 之前、我们在一些原型上获得了类似的结果、这些原型在 HDQ 输入端缺少齐纳二极管。
症状与《手持电池组电子产品中的 SLUA460、ESD 和射频缓解》中描述的非常相似、特别是有关 ESD 缓解的部分、"例如、 RAM 损坏可能会由于 ESD 而发生、如果它导致对可用容量或其他关键信息的错误报告、则是不可接受的"。
我们在 HDQ 输入端具有典型的齐纳二极管保护、并已检查它们在受影响的电池组上是否正常工作。
问题/意见/建议？ 掩码/进程是否有任何可能导致此效应的更改？ HDQ 输入上的哪种干扰会导致这种类型的损坏？ 如果有任何建议，将不胜感激。
