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https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/811326/lm5060-issue-with-gate-pin-of-lm5060
LM5060未打开受控 FET，似乎部件正在进入 VGS 锁定... 将 FET 移到另一个电路、FET 正常工作。 栅极引脚可能会损坏。
VOUT 连接到无刷直流电机控制器板的输入电压。
尊敬的 John：
欢迎使用 E2E！
栅极处的电容是多少？
您能否共享的测试波形
此致、
Rakesh
谢谢！
栅极处的电容是多少？ C20是否已组装？
您能否共享以下测试波形(而不是启用、电源正常)
我今天将为您获取波形。 未组装 C20。
谢谢、
John
e2e.ti.com/.../screen_5F00_caps.zip
附加的屏幕截图。
感谢您提供测试波形。
它看起来 VGS 故障正在被触发。
良好和不良测试条件之间有何差异？ FET 是否不同？ 对于相同的 FET 器件型号、这是否是可重复的行为？ 负载电容是多少？
您好、Rakesh、
我同意这似乎是一个 VGS 问题。 测试条件相同... 不同的 LM5060。 FET 是我们移除了坏器件并将其替换为新器件的器件、之后电路运行正常。 当您指可重复... 坏的总是失败的，好的总是会通过。 我们已经构建了超过500个电路板、每个电路板上有5个 LM5060器件。有3个器件的故障方式与屏幕截图中描述的相同。 栅极电容为 13650pF。 没有其他电容。
我是说在所有电路板上是否都看到类似的行为。 您已经回答了您在3块电路板上观察到的情况。
一个后续问题..
在这3块电路板上... 如果您使用新的 LM5060更改控制器 LM5060。 他们是否开始工作？ 或者您只更换了 FET 以使电路板正常工作？
谢谢
我们仅在三个板上看到了这一点。
当我们使用新的 Lm5060更改 Lm5060时、电路板将开始工作。
未更换其它组件。
好的。
这三块电路板在首次电路板启动期间或在任何故障/评估过程 中或在客户现场出现故障？
尊敬的 Rakes：
设备在字段中失败... 在3分钟到50小时的任何时间范围内变化。
您能否分享设计的完整验证报告(涵盖启动、过载、短路测试)以供查看。
我只想知道、该设计在现场的实际故障期间具有很强的保护能力。 请帮助分享关键测试的验证结果。
e2e.ti.com/.../DIstrib_5F00_bootup.rare2e.ti.com/.../Distrib_5F00_max-temp.rare2e.ti.com/.../Distrib_5F00_control_5F00_-signal.rare2e.ti.com/.../DIstrib_5F00_bootup.rar
e2e.ti.com/.../Distrib_5F00_output_5F00_rise.rar
e2e.ti.com/.../6472.Distrib_5F00_output_5F00_rise.rar
非常感谢。 这些测试看起来与启动、关断时序相关。
您能否分享过载和短路测试结果、这些是外部 FET 上压力最大的测试。
我将努力为您提供图像。 我们看到的故障不在 FET 上(我们已在多个样本上确认了)。 故障发生在 LM5060的栅极引脚上。
e2e.ti.com/.../DVSR_2D00_10810_5F00_Toggle-PWR_5F00_EN.rar
请参阅随附的文件
非常感谢。 这些也与启动、关断测试波形相关。
我收到了现场工程师的请求。 我正在通过电子邮件进行跟进、因为我想了解有关用例和您的系统的更多详细信息。
您好！
只想知道有关此问题的任何更新。 我们也遇到类似的问题。
尊敬的 Paul：
我们已经为 FA 取了单位，目前正在进行中。
您能否分享有关您的应用用例、故障症状、原理图等的更多详细信息 我建议打开一个与此帖子相关的新主题、以使讨论保持集中。 谢谢！
我知道这些器件已抵达 TI -达拉斯进行故障分析。
我们正在等待结果。
FA 结果准备就绪后、您当地的 FAE 将通过电子邮件共享。
我们正在通过电子邮件和 FA 进行讨论。 我暂时关闭此线程。
