[参考译文] TPS51116：EMC 测试中的 TPS51116故障

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/813219/tps51116-tps51116-failure-in-emc-test

大家好、  

我的客户使用 TPS51116RGE 作为 DDR3供电设备。 他们最近正在进行 EMC 测试。 4kV 照明浪涌测试对其电路板进行了实施、这将导致 TPS51116的1.5V 输出失败、降至0V。  

经过多次测试、位于 TPS51116附近的继电器线圈非常可疑、是导致故障的根本原因。

有关详细信息、请参阅下图：TPS51116器件与继电器线圈之间的距离约为10mm。  

如果在 TPS51116的顶部施加屏蔽、将有助于获得该结果。

那么、问题是为什么照明浪涌测试会通过继电器线圈影响 TPS51116？  

对于此设计、您还能看到任何其他风险吗？  

谢谢！