您好!
我们正在实验 bq2409x 电池充电器的一些问题。
在我们的其中一个器件中、我们使用了3种电源方法、其中一种是通过 bq2409x 充电的锂电池。
该器件是一款 EEG 记录仪、与患者相连、因此在患者输入端存在 ESD 时可一次性连接。
在 ESD 频繁损坏 bq2409x 的情况下、不会对电池充电
电流消耗高于正常水平、并且外壳上的芯片温度也可以达到150°C
此事件发生在这些地方使用的器件的10%上。
因此、我们尝试在室内使用 ESD 枪在患者输入端进行9KV 放电、从而重复该问题。
但最初的试验导致了 BQ2409x 通常是 FPGA 和输入放大器之外的其他组件的中断、因此我们还应考虑与 ESD 不同的其他问题。
我们为患者输入提供了 Traszorb 保护、还提供了绕过隔离栅的3KV 气体充电器。
在数据表中、BQ2409x 的 ESD 额定值为3KV (HBM)、但建议考虑对器件进行 ESD 处理。
实际上,在布局中,我们没有靠近芯片电源的电容器,也没有钳制到我们打算添加的 IN、OUT 或 CHG、PG 引脚上的电压,以考虑除 ESD 之外的额外电压。
是否有人对 BQ2409x 损坏有问题?
为了保持 bq2409x 的功能、是否需要采取任何已知的特定措施?
已连接电源方案。
感谢您的关注
Matteo Sarto