您好专家、
客户有一款产品已投入生产多年、使用了 TPS40422、并获得了一些显示 OT 故障的故障退货、但它只是室温。 他们发现这是由于 BJT 老化导致 Vo 在新 BJT 更换后变得良好。 想知道是否有 HW (修改电路)/FW (更改寄存器)权变措施可以禁用温度感应功能?
此致、
Allan
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您好、Allan、
我不建议这样做。 由于电感器的 DCR 是温度的函数、因此需要使用电感器温度感应来提供精确的输出电流报告。
此外、无法在固件中关闭温度感应。
我建议使用带有高阻抗探针(>=1MΩ Ω)的示波器来检查故障电路板和良好电路板上 BJT 两端的电压。 虽然 BJT 老化当然是可能的问题、但这是一个奇怪的问题。 我希望电路板的电容器在分立式 NPN 失效之前多年发生故障。
如果确实证明 BJT 电压不良(应该在500-700mV 范围内)、我建议用不同的 BJT 模型替代它、而不是完全删除温度感测。
谢谢、
特拉维斯
您好、Allan、
在室温下、几乎任何硅 NPN 晶体管的 VBE 都应约为700mV、并且该电压应在结温增加的每个摄氏度下下降~2mV。 您是否在报告520mV 时检查了晶体管温度?
除非该晶体管的 NPN 设计与我之前的设计非常不同、否则我不确定这些电压读数是如何可能的。
您的客户是否可能使用基于锗的晶体管? TPS40422专为与硅 NPN 搭配使用而设计、后者是分立式 BJT 的最常见类型。
谢谢、
特拉维斯
您好、Travis、
请查看附件中的测试数据和其他问题吗?
e2e.ti.com/.../TPS40422-TEMP-issue.xlsx
此致、
Allan
您好、Allan、
电子表格中的响应。
e2e.ti.com/.../5722.TPS40422-TEMP-issue.xlsx
谢谢、
特拉维斯
大家好、Travis、
我已根据你的答覆提出一些问题
e2e.ti.com/.../5722.TPS40422-TEMP-issue_2D00_1.xlsx
谢谢、
Jake