[参考译文] CSD95490Q5MC：CSD95490Q5MC MOS 损坏发生在工作一年后

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器件型号：CSD95490Q5MC
主题中讨论的其他器件：TPS53681

您好，工程师：

我们有一个使用 TPS53681+6*CSD95490；12V 输入，0.86V/峰值300A 输出的项目。

设备已运行一年、但 CSD95490已损坏(开裂和 VIN 至 PGND 短路)、如下图：所示

1、请帮助分析原因？

2、请提供 MTBF？的计算方法

3、三个器件具有相同的问题

我们进行了以下测试：

1 μ A、℃，℃：电流= 270A，TA=40 TJ=98 μ A。

2、VSW 至 PGND 测试波形（VSW 过冲相对较高。我们怀疑 VSW 过冲是否影响寿命）？

此致、

Shaocong

2 年多前

0 admin 2 年多前

TI__Guru**** 1831610 points

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VSW 测试条件：六相300A 和测试点相位1

0 admin 2 年多前

TI__Guru**** 1831610 points

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您好、Shaocong、

在270A 下进行测试时、该连续电流还是 RMS 电流？ CSD95490的最大 RMS 约为每相30A。超过该值可能会导致您看到的损坏。

此致、

Nash

0 admin 2 年多前

TI__Guru**** 1831610 points

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您是否还可以发送 HS FET 的波形？雪崩也可能是这里的问题。

0 admin 2 年多前

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您好，Nash：

1、测试270A 是连续工作电流，如上图所示(使用 TI Fusion Digital Power Designer Monitoring)是恒定电流。

2、每相最大 RMS 30A？如何理解？

3、HS FET 波形我应该如何测试它？Vin 至 VSW？

此致、

Shaocong

0 admin 2 年多前

TI__Guru**** 1831610 points

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您好、Shaocong、

1.270A 为每相45A。这低于我们的连续额定值、但仍高于 RMS 额定值。这可能是导致故障的原因。

2.在数据表中、连续测量是在 Ton = 500us 时测得的。 RMS 是器件的真正连续电流额定值。

Vin 至 VSW 将提供 HS FET。

如果您有更多问题、请告诉我。

此致、

Nash

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