您好、先生、
我们的客户在引脚20 (PH)和引脚22 (BTST)短接时遇到了 IC 损坏问题、我们查看了他们的原理图、然后发现他们使用的是自举 DIOE 是通用二极管而非肖特基二极管、因此我们建议对其进行更改并再次进行测试。
结果表明可以解决此损坏问题、但我们必须解释为什么使用通用二极管会使引脚20和引脚22上的 IC 损坏短路?
请帮您提供此说明吗?
谢谢
此致、
杨孝天
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您好、先生、
我们的客户在引脚20 (PH)和引脚22 (BTST)短接时遇到了 IC 损坏问题、我们查看了他们的原理图、然后发现他们使用的是自举 DIOE 是通用二极管而非肖特基二极管、因此我们建议对其进行更改并再次进行测试。
结果表明可以解决此损坏问题、但我们必须解释为什么使用通用二极管会使引脚20和引脚22上的 IC 损坏短路?
请帮您提供此说明吗?
谢谢
此致、
杨孝天
您好 Ken、
关于损耗、我们可以大致计算整个自举电路中的总损耗。 这就是为什么我们需要添加肖特基二极管、因为它具有快速恢复能力、因此比通用二极管更好。 对于真正的损坏根本原因、我们无法确定、因为没有波形来显示其发生的情况。 但恢复损耗可能是其损坏的原因。 REGN、PH 和 BTST 均已损坏、这表示其高侧驱动器已损坏。 这可能是由于恢复损耗超出驱动器限制而导致的。 使用肖特基二极管可以解决此问题、我们通常使用肖特基二极管作为自举二极管。 我认为、如果您将通用二极管更改为肖特基二极管、则会很好且不会再次损坏。
谢谢、
Ann Lien
e2e.ti.com/.../bat54.pdfe2e.ti.com/.../1SS355_2D00_REV.3.pdf
您好 Ken、
自举二极管损耗 是自举电容器充电时发生的正向偏置功率损耗与反向恢复期间发生的反向偏置功率损耗之和。
您能否向我们分享整个原理图? 我们可以进一步讨论是否有任何其他电路会导致此问题。
对于二极管、通用二极管的 TRR 几乎与肖特基二极管相同。 因此、TRR 可能不是这个问题的原因。
您能否在此问题之前/之后测量 REGN、BTST、PH? 我们可以通过波形进行讨论、以确定哪一个是第一个损坏的、并导致其他电路损坏。
谢谢、
Ann Lien
e2e.ti.com/.../3S-CHARGE.pdfHiAnn、
感谢您介绍自举二极管损耗计算。
随附的文件是供您查看的客户原理图。
这一问题不容易重复、使用通用二极管或肖特基二极管两者都可以正常工作、并且波形 看起来类似。(请参阅以下波形。)
CH1:PH
CH2:BTST
CH3:REGN
图1 =>通用二极管
谢谢
Ken