主题中讨论的其他器件: UC2825
就占空比(%)而言、最大占空比限制(UC28025或 UC2825)的批次间容差是多少? 在其他情况下、对于相同的 RT 和 CT、如果我更改同一电路板上的 IC、最大占空比的范围是多少? 这与击穿有关。
Sam
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对于固定开关频率为100KHz 的情况、如果来自 PFC 级的 UC28025的输入电压在负载跳变瞬态中足够近、则输出电压 Vout 将低于稳压电压。 在这种情况下、控制器将生成最高占空比、例如99%、以尝试将 Vout 增大到其调节值。
我可以调整一个板上的 UC28025、使顶部和底部 FET 的死区时间达到 UC28025的最大占空比限值120ns。 我的问题是:
如果我在同一电路板上测试10、000块 UC2805 IC 芯片、死区时间有何变化? 我知道它们不能全部为120ns。 如果偏差为50ns 或更低、我确信不会发生击穿。 但是、如果死区时间变化为130ns、我相信在10、000个器件中将会发生击穿。
我的设计要求死区时间最长为150ns。 我无法设计500ns 的死区时间、即使500ns 的死区时间永远不会击穿。
如果您有任何问题、请告诉我。 我喜欢 U28025并希望在我的设计中使用它。
谢谢你。
Sam
它用于全桥。 死区时间是指顶部和底部 FET 都关断的时间。 因为变压器必须为1:1。 VIN = 100V、Vout = 96V、则占空比必须约为97%至98%。 对于 FS = 100KHz、2%关断时间意味着每个死区时间仅为100ns (一个开关周期有两个死区时间、一个用于左腿、另一个用于右腿。
我可以转动一个板以获得100ns 的死区时间。 我想知道同一电路板上10、000块 IC 芯片的死区时间变化。 当然、由于 R、C 容差、死区时间会发生变化、但现在我们只讨论 IC 死区时间变化。
感谢您的回复。
Sam