[参考译文] BQ25120：锂聚合物深度放电问题

Damien、

我们最近发布了 BQ25120A 器件、建议所有客户改用该器件。  

话虽如此-我们已在 BQ25120A 上解决了这个问题、我们可以在该问题上使用任何 BAT 条件启动。 您可以检查 PMID 吗？ 如果 PMID 不出现-它反映了我们在器件的原始版本1上修复的问题。  

旧器件要求 BAT 在启动时不在0.2V 至1V 之间。  

此致、

gautham

您好、Gautham、

很抱歉耽误你的回答。

我们将确保尽快切换到 BQ25120A。

但是、我检查了 PMID、当 VIN 打开时、它确实会出现并保持上升：

此外、当切换 VIN 打开时、我再次检查了 VBAT、我得到的结果如下：

不确定上次检查时为什么没有出现这种情况。 VBAT 电压最终达到0V、除非我回收 VIN、否则不会再次出现。

显然、除非在电池组 PCM 被阻断时 VIN 作为 VBAT=0V 打开、否则 PMID 不会出现。

这是否与您在回复中描述的问题相同、应使用新芯片解决？

谢谢、

Damien

您好、Gautham、

对此有任何反馈吗？

Damien、

好的问题-我看到可能触发了故障、可能导致了这种情况。 PMID 的出现是一个良好的迹象-非 A 版本上的行为是 PMID 不会出现。  

1.您是否看到除 UVLO 之外的任何其他故障？

2.如果我在论坛帖子开始时恢复到您的寄存器设置、则/CD 显示为低电平。  也请确认。  

此致、

gautham

您好、Gautham、

BUVLO 除外。

2.插入充电器时/CD 引脚为低电平、但在启动后出现@~870ms 的小毛刺脉冲(黄色表示 VIN、蓝色表示/CD)

放大/CD 干扰：

谢谢、

Damien