[参考译文] bq24600：空载热和电流消耗，与 LODRV、HIDRV、PH、BTST 的图片

使用 PADS 9.5的源文件、或使用.asc、后者没有完整信息。

e2e.ti.com/.../asc_5F00_BQ24600_5F00_V1.0_5F00_20171101.rare2e.ti.com/.../BQ24600_5F00_V1.0_5F00_20171101.pcb

26.2V 输入电压、25V 输出电压、低电压测试，无负载

不确定我是否理解您的问题。 您是否在问为什么 IQ 为70mA？ 或者您的电路板为何损坏？

当您是指空载时、您是指未连接电池、也没有其他系统负载由 VIN 供电吗？

您显示的四个波形是什么？  

这些波形是否在您认为已损坏的电路板上进行了测试？

当未连接电池时、IC 运行电池检测例程、请参阅数据表电池检测部分。  器件上电后、向 SRN 端子施加8mA 放电电流。 如果电池电压在1秒内降至 LOWV 阈值以下、则放电源将关闭、并且充电器将在低充电电流(125mA)下打开。 如果电池电压在500ms 内升至充电阈值以上、则不存在电池、并且循环重新开始。 因此、有一个125mA (典型值)每1s 运行0.5s。  

[引用用户="Jing Zou"]

不确定我是否理解您的问题。 您是否在问为什么 IQ 为70mA？ 或者您的电路板为什么会损坏？—所有这些都是、因为我们知道 IC 太热、会导致损坏

当您是指无负载时、您是指未连接电池、也没有其他系统负载由 VIN 供电吗？—无负载为无电池、提供 VIN 27V (26.2V)

您显示的四个波形是什么？  ——我想我已经用 LODRV HIDRV PH BTST 的 PIN 下达了订单，我们认为 LODRV 不是很好

这些波形是否在您认为已损坏的电路板上进行了测试？-损坏的波形无法正常工作、我们测试了一个"良好"波形、您可以找到一些 BQ246xx 的热示例、我们不知道如何解决它

当未连接电池时、IC 运行电池检测例程、请参阅数据表电池检测部分。  器件上电后、向 SRN 端子施加8mA 放电电流。 如果电池电压在1秒内降至 LOWV 阈值以下、则放电源将关闭、并且充电器将在低充电电流(125mA)下打开。 如果电池电压在500ms 内升至充电阈值以上、则不存在电池、并且循环重新开始。 因此、有一个125mA (典型值)每1s 运行0.5s。  ——谢谢，我知道8mA 放电电流， 但我们也有65~70mA 的放电电流，在这个问题上，发热是最糟糕的事情，当我们用电池测试充电时，IC 是阻尼。 这是我们的第二个板、相同。 热点问题是我们最大的问题

[/报价]

——

e2e.ti.com/.../BA24600-Test-Wave.rar

重点是125mA 充电电流、用于测试电池电压是否已充电。 这是一个充电电流、因此从输入中拉出的时间为500ms。

我使用 PCAD PCB 查看器、但无法打开您的布局文件。

是否也是来自"良好"电路板的第二组波形？ 测试条件是什么。 它看起来与第一组波形不同。

1、该电流始终保持

2、PADS (.PCB)或 Altium Designer (.asc)更好。 它使用 PADS9.5开发

3、"坏"板在没有测试波的情况下损坏、测试条件与第一个说"设置 Vin 27V，OUT 12.6/500mA"的测试条件相同、第二个说是 SCH 说对于27Vin/252VOUT、所有测试条件都没有接触到电池。

此外、

VIN 27V/12.6V OUT 是客户测试、今天我将 R8更改为大约500K、因为同样的条件、即开启、IC 是烟雾抑制器...

相同的经验可以帮助解决、例如吹气问题：

(1)http://e2e.ti.com/support/power_management/battery_management/f/179/t/611745?tisearch=e2e-sitesearch&keymatch=LODRV

(2)