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[参考译文] LM25037的死区时间

admin
Guru**** 2604225 points
Other Parts Discussed in Thread: LM25037

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/757041/dead-time-of-lm25037

主题中讨论的其他器件：LM25037

我们有关于 LM25037的问题。

死区时间写入数据表第6页。

40 (最小值)

75 (典型值)

105 (最大值)

我们想知道死区时间变化的解释。

变化为35nS (最小值和典型值)和30nS (典型值和最大值)。

变化约为±40%。

哪一项是正确的？

我们使用时间(--ns)或%进行杂散，以检查死区时间的变化。

此致、

西泽高郎

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    TI__Guru**** 2604225 points
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    你好，Nishizawa-San

    规格限制是死区时间将在40ns 至105ns 范围内、这包括温度变化。 您可以预期75ns 的典型死区时间-。 规格限制与典型值不对称、但我没有测试数据来显示测试结果的分布、即平均值和标准偏差。

    最好的方法是使用数据表中给出的时间限制、因为这些是我们在测试过程中使用的限制。

    如果您需要分配测试结果、平均值和标准偏差-请告诉我、我会要求他们。 由于圣诞假期、获取该数据会有一些延迟。

    此致
    Colin
  • 0
    TI__Guru**** 2604225 points
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    感谢您的回答！


    我们有一个新问题。
    在数据表中、当 Rrt2为15kΩ Ω 时、死区时间为40ns 至105nS。
    请告诉我们 Rrt2值更改时死区时间的变化。
    如果 Rrt2发生更改、死区时间的变化是否始终与典型值75nS 约35nS？
    我们是否应该考虑±-%的变化？

    例如、当我们设置死区时间250nS 时、
    变化是从典型时间开始约35nS、还是从典型时间开始约±40%？


    此致、


    西泽高郎
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    TI__Guru**** 2604225 points
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    你的情况如何？
    我们正在等待您的回答！

    此致、

    西泽高郎
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    TI__Guru**** 2604225 points
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    感谢您的支持！

    我们希望早日得到答案。

    我们有一个新问题。
    在数据表中、当 Rrt2为15kΩ Ω 时、死区时间为40ns 至105nS。
    请告诉我们 Rrt2值更改时死区时间的变化。
    如果 Rrt2发生更改、死区时间的变化是否始终与典型值75nS 约35nS？
    我们是否应该考虑±-%的变化？

    例如、当我们设置死区时间250nS 时、
    变化是从典型时间开始约35nS、还是从典型时间开始约±40%？


    此致、


    西佐瓦高郎
  • 0
    TI__Guru**** 2604225 points
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    你好 Nishziawa-San

    我在圣诞节/新年假期都是 OOO。 我会尽快回答您的问题。

    此致

    Colin

  • 0
    TI__Guru**** 2604225 points
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    我们了解您的情况。
    我们希望早日得到答案。

    此致、


    西泽高郎
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    TI__Guru**** 2604225 points
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    你好，Nishizawa-San

    我预计死区时间变化与 RT2的关系图会由于固定的内部延迟(DS 中的第7.4.3节)而出现初始偏移、这会将最小死区时间限制为典型值50ns。 在较大的标称死区时间、可变性是固定内部延迟加上振荡器中时序分量变化所产生的影响的组合。
    初始偏移将是较短死区时间的可变性比较长死区时间的大比例。 因此、总的影响是、随着标称死区时间的增加、百分比变化会减小。 遗憾的是、我们没有任何测试数据来量化此变化、因此我建议保守的方法是客户设计死区时间变化±40%的情况

    您的客户是否选择了特定的死区时间值？ 他们计划使用 RT2的价值是什么？

    此致
    Colin