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[参考译文] BQ33100:闪存编程注意事项

Guru**** 2378740 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ33100
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/640782/bq33100-flash-programming-caution

器件型号:BQ33100

您的文档 slua645-1.pdf 中介绍了如何对 BQ33100闪存进行编程- "注意:如果在此过程中断电、器件可能无法使用"。  我可以确认这一警告似乎是正确的;在看到警示声明之前、我在编程期间执行了电源中断。  BQ33100现在不再具有默认地址0x16、TS 引脚(热敏电阻)上不会出现脉冲活动。 对我来说、BQ33100似乎"被骗了"。  我对此还有其他一些问题。

1.在其他情况下,可能会发生这种诱使。  在另一个驱动器上、我看到主机 FW 在编程周期的中间启动一个学习周期。  该芯片看起来也是砖砌的。  这让我担心如何处理芯片;我想弄清楚我必须避免的所有情况。

2.你能不能轻弄芯片为什么会被骗?  它必须是芯片内的一些状态变量、因为我似乎在没有下电上电周期的情况下使芯片起了故障。

 3.砖砌的芯片是否无法恢复?  我是否需要更换被欺骗的芯片?  如果是、什么是指示发生了吸毛的最终措施?  NACKing 地址0x16是否足够?  TS 引脚上缺少脉冲是否足够?

此致

CB

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    尊敬的 CB:

    如果您的器件出现故障、则 TS 引脚不会出现脉冲、2.5V LDO 将不会有电压输出或小于2.5V。

    您需要更换芯片、没有针对砖砌芯片的恢复机制。

    由于在学习过程中进行编程而引起的 IC 闪烁对我来说是一种新功能、但感谢您指出这一点。 芯片砖的另一个已知时间是编程时循环通电

    谢谢
    Onyx
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    这是我所说的"砖型"驱动器的响应。  希望有人能找到点东西。  它显示了默认地址0x16的立即 NACK

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    感谢 Onyx 的提示信息。 我将把我们的信息传达给团队。 我将在联系他们后解决此问题、看看他们是否对此问题有更多问题
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    您好、Charles、

    我在实验中尝试通过在 ROM 模式和固件模式下编程期间切断电源来使器件砖型。 我无法重复失败。 器件在固件模式下复位后恢复、或恢复到 ROM 模式、从而刷写.senc 文件恢复了器件功能。 器件能够 ACK 默认地址0x16。

    一些后续/贯穿问题和步骤:

    是否使用 EV2300对器件进行编程?
    如果是、EV2300上当前的固件版本是什么?
    如果未使用 EV2300对器件进行编程、则什么是?

    关于示波器图、该图在电路板上的哪个位置绘制?
    请范围 SMBC/SMBD 行:
    测量仪表上
    2、主器件上

    此致、
    Bryan Kahler

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    你(们)好,Bryan

    感谢您发帖。  此事务的主机是内部 I2C 总线上的主机微处理器。 我在主机和 BQ33100 TSSOP24 (引脚14、16) SDA SCL 上都进行了跟踪。  我将必须检查该图显示的测量值。 突出的细节是眼前的一个问题... 如果 BQ 没有被骗、就不会发生这种情况。  在"正常"bq 上、波形相同、但继续进行完全交互(即通过 NACK)。

    该电路包含来自主机的信号、通过 I2C 电平转换器、然后通过100欧姆100pf RC 组合)。  在主机或 BqA 芯片上测量时、上升时间看起来非常相似。  我怀疑内部芯片电容占主导地位。  我认为 BQ 侧上拉电阻为5K 至3.3V。

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    您好、Charles、

    感谢您提供这些详细信息。  我完全同意- NACK 是重要的细节。

    您能不能再简单介绍一下主机微控制器中 bq33100的编程流程?  是否有任何完整性检查?  数据闪存的前2行保存到非易失性存储器、然后擦除、写入数据闪存(前2行除外)、然后写入数据闪存的前2行是数据闪存?

    要尝试恢复设备、请在为设备供电时使用 ENTER ROM 命令(写入0x00、0x0F00)向设备发送垃圾邮件。  如果器件为 ACK、则使用 senc 文件对器件进行编程。

    请尝试多次启动/启动、并让我知道结果如何!

    此致、
    Bryan Kahler

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    你(们)好,Bryan

    感谢您的回复。 我将我的答复放在下面>>>内嵌

    您能不能再简单介绍一下主机微控制器中 bq33100的编程流程?
    是否有任何完整性检查?

    >>>我们尚未对闪存数据执行任何完整性检查。 如果我们确实能够实现可靠的编程过程、我们可能会添加回读(在 ROM 模式期间)和全字节比较。 请参阅我最近的另一个有关 BQ 校验和的主题。 对我们来说、是爬之前的步行。

    数据闪存的前2行保存到非易失性存储器、然后擦除、写入数据闪存(前2行除外)、然后写入数据闪存的前2行是数据闪存?

    >>我不太确定您在这里提出了什么建议;您能重复一下这个问题吗? 在成功编程期间、我们擦除32次、然后编程32次。 它们都按顺序完成、0-31与 slua645-1.pdf 文档第2.3节的建议非常相似。

    要尝试恢复设备、请在为设备供电时使用 ENTER ROM 命令(写入0x00、0x0F00)向设备发送垃圾邮件。 如果器件为 ACK、则使用 senc 文件对器件进行编程。

    >>我已经尝试了几百个上电周期、然后对 BQ33100 (BQ)进行寻址。 BQ 每次都在不发生故障的情况下将地址0x16置位。 我们尝试探测 TS 引脚、它上面没有脉冲;而正常工作的 BQ 则有。 我们尝试了除0x16之外的每一个其他地址、唯一一个未被覆盖的地址是0x00、即通用调用地址。 但是、BQ 会在0x00之后否定任何命令。

    请尝试多次启动/启动、并让我知道结果如何!
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Charles、

    感谢您提供内联注释。 不建议在编程期间切断器件的电源。 但是、要获得更具弹性的编程流程、请参阅本文档中的图8-10: http://www.ti.com/lit/slua449f

    应用手册适用于单节电池电量监测计、命令可能与 bq33100的命令不同、但这些流程图描述了以更具弹性的方式对器件进行编程的过程(而不是直接擦除和重写)。 在这个流程中、在确认数据闪存被成功写入后、头两行被写入。

    对于尝试的设备恢复:

    1) 1)请单独为主机加电(不要为 bq33100加电)。
    2) 2)主机上电后、尝试从主机无限循环发送 ENTER ROM 命令。
    3)随着命令持续发送(到地址0x16)、为 bq33100加电。
    4) 4)如果器件 ACK 响应其地址并进入 ROM 模式、请对器件进行编程。

    请告诉我该测试是如何结果的。

    此致、
    Bryan Kahler

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    您好、谢谢
    我将我的注释>>INLINE 放在下面
    我想我已经回答过一次了。 如果此内容重复、请将其删除

    您好、Charles、

    感谢您提供内联注释。 不建议在编程期间切断器件的电源。 但是、要获得更具弹性的编程流程、请参阅本文档中的图8-10: http://www.ti.com/lit/slua449f

    应用手册适用于单节电池电量监测计、命令可能与 bq33100的命令不同、但这些流程图描述了以更具弹性的方式对器件进行编程的过程(而不是直接擦除和重写)。 在这个流程中、在确认数据闪存被成功写入后、头两行被写入。

    >>>感谢您-我将研究更新的编程算法,以了解我们是否可以实现它来代替我们正在使用的算法

    对于尝试的设备恢复:

    1) 1)请单独为主机加电(不要为 bq33100加电)。
    2) 2)主机上电后、尝试从主机无限循环发送 ENTER ROM 命令。
    3)随着命令持续发送(到地址0x16)、为 bq33100加电。
    4) 4)如果器件 ACK 响应其地址并进入 ROM 模式、请对器件进行编程。

    >>>感谢您-我已将此信息转发给团队,我们可以决定是否要尝试“解砖”驱动器。 如果我们决定尝试恢复、我们将尝试执行此操作。 我一定会让您知道它是如何工作的。

    请告诉我该测试是如何结果的。