• 状态 Resolved
  • 已锁定 已锁定
  • 回复 4 回复
  • 订户 0 订户
  • 视图 190 视图
  • 用户 0 会员在此处
选项
选项
相关

This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] BQ34Z100-G1：I2C 通信问题、SCL 线路被随机驱动为低电平大约4.5[ms]

admin
Guru**** 2409930 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ34Z100-G1, BQ34Z100, BQSTUDIO

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/658192/bq34z100-g1-i2c-communication-issue-scl-line-driven-low-for-about-4-5-ms-randomly

器件型号：BQ34Z100-G1
主题中讨论的其他器件： BQ34Z100、 BQSTUDIO

支持路径：/Product/Development 和故障排除/

您好！  

我们使用的是 BQ34Z100-G1、只需通过 I2C 每100[ms]读取以下寄存器

-寄存器0x02：SoC + ME

-寄存器0x10：I

-寄存器0x0C：温度

-寄存器0x08：伏特

-寄存器0x06：FCC

Randomely (大约每10s 一次)、在发出第一个启动条件时、器件会在~4.5[ms]期间将 SCL 线路驱动为低电平。

我看不出对这种行为的任何解释。 这是正常的吗？ bq34z100是否可以在这段时间内处于"忙碌"状态？

I2C 配置：

-100kHz

- 10千欧的上拉电阻

-除了将总线驱动为主控的 STM32和 bq34z100之外、I2C 总线上没有其他节点。

谢谢

  • 0
    TI__Guru**** 2409930 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 F. Baumgartner：

    在将值写入数据闪存时、监测计最多可能需要25ms。

    如果您认为该时钟拉伸有误：


    您能否向我发送发生此事件的逻辑分析仪输出？ 还请在时钟拉伸事件之前添加并成功执行的命令。

    运行逻辑分析仪时、还请发送一些与逻辑分析仪数据一致的示例截图、以便也可以探索模拟效果。

    如果此事件是随机的、并且未与特定的命令序列相关联、请发送几个示例。

    此外、为了帮助重现和诊断事件、请发送 gg.csv 文件和日志、其中包含与上述逻辑分析仪快照相对应的突出显示行。

    此致、
    Bryan Kahler

  • 0
    TI__Guru**** 2409930 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    谢谢你 Bryan。  

    包含所需样片的 zip 文件下。

    谢谢、  

    e2e.ti.com/.../InfosForTI201801230802.zip

  • 0
    TI__Guru**** 2409930 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好！

    有关此问题的任何新闻？
  • 0
    TI__Guru**** 2409930 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 F. Baumgartner：

    感谢您提供详细的示波器截图-沟通看起来不错(时钟拉伸除外)。

    在实验室中进行一些测试后、我为您提供了一个快速过程、可帮助您排除数据闪存写入：

    作为测试、在 EVM (非生产板)上、请将器件设置为单节电池模式(可以使用默认 Gg、设置跳线和 VOLTSEL)。  验证是否仍然可以看到时钟拉伸。

    使用3.8V 为电路板供电。 接下来、将 闪存更新正常电芯电压修改为4000mV。  在 bqStudio 中、请单击"Read All"以确保设置了该值。  确认该值已正确设置后、尝试修改 DataFlash 中的另一个值并再次单击"Read All"、但验证该值是否未设置。  确认该值未设置后、请重新运行测试以确定器件是否仍处于时钟拉伸状态。

    如果时钟拉伸已消失或已被减少、这将确认时钟拉伸实际上是由于器件写入 DataFlash 所致。

    测试完成后、请将器件电压增大至4200mV、并将 闪存更新正常电芯电压设置回先前的值。

    请告诉我这些测试是如何结束的-如果时钟拉伸仍然存在并且无法排除 DF 写入、请同时向我发送一个日志文件、我将尝试在实验中进行复制。

    此致、
    Bryan Kahler