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器件型号:BQ76940 您好!
我将此 IC 用于我的应用、我需要了解 ADC 测量精度随时间推移因老化影响而产生的电压、电流和温度感应偏差的趋势和测试数据。
造成这种情况的主要因素是什么?
此致、
Vishal Verma
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您好!
我将此 IC 用于我的应用、我需要了解 ADC 测量精度随时间推移因老化影响而产生的电压、电流和温度感应偏差的趋势和测试数据。
造成这种情况的主要因素是什么?
此致、
Vishal Verma
尊敬的 Verma:
请详细说明您的应用环境。
bq769x0 d/s 数据表未指定 ADC 精度的漂移或老化信息。 然而、执行了一个到700Hrs 的加速温度(125C)。 对于 ADC 范围、"老化"可概括 为 ~μ V
电池电压范围(V) | 温度范围 | 器件寿命 | 额定电压 | 最坏情况(ave+3 sigma) |
2V-5V | 0-125C | 80小时(注1) | 9.79mV | 19.87mV |
注1:80小时@125°C 相当于1.54年(45°C)。
通常、所需的范围和所需的应用温度范围将提供不同的等效值。
希望这对您有所帮助。