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[参考译文] BQ76940：ADC 测量随时间推移和老化而产生的精度漂移

admin
Guru**** 2422790 points


请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/639214/bq76940-adc-measurement-accuracy-drift-over-time-and-ageing

器件型号：BQ76940

您好！

我将此 IC 用于我的应用、我需要了解 ADC 测量精度随时间推移因老化影响而产生的电压、电流和温度感应偏差的趋势和测试数据。

造成这种情况的主要因素是什么？

此致、

Vishal Verma

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    TI__Guru**** 2422790 points
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    尊敬的 Verma：

    请详细说明您的应用环境。

    bq769x0 d/s 数据表未指定 ADC 精度的漂移或老化信息。 然而、执行了一个到700Hrs 的加速温度(125C)。 对于 ADC 范围、"老化"可概括 为 ~μ V

    电池电压范围(V) 温度范围 器件寿命 额定电压 最坏情况(ave+3 sigma)
    2V-5V 0-125C 80小时(注1) 9.79mV 19.87mV

    注1：80小时@125°C 相当于1.54年(45°C)。

    通常、所需的范围和所需的应用温度范围将提供不同的等效值。

    希望这对您有所帮助。

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    TI__Guru**** 2422790 points
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    您好 Vish、

    感谢您的回复。

    在我们的应用中、测量范围为2至4.2V、近似温度范围为0至55°C。
    根据您捕获的数据、测量数据是多少。

    此外、是否提供的标称数据高于漂移分布的平均值、且围绕该平均值的偏差为3sigma？

    此致、
    Vishal Verma

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    TI__Guru**** 2422790 points
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    在您的应用范围内、请参阅 d/s ADC 精度+/- 50mV 是要使用的保守数字。 该数字考虑了许多变化、并具有+/- 4STD 导出。