[参考译文] BQ25895：辐射测试

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请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

器件型号：BQ25895
主题中讨论的其他器件：LM3488、

你(们)好

目前、我的客户端正在配置 bq25895 + lm3488电路。

现在、我们将超出辐射测试期间240MHz 频带的参考值、如图所示。

我删除了 lm3488，但出现了相同的问题。

然而、当移除 bq25895的输出电容时、辐射测试得到了改进。

操作 lm3488需要电容。我们是否可以改进？

它将提供 PCB 和原理图文件。

0 admin 7 年多前

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尊敬的 Andy：

我不明白为什么从 SYS 上移除电容器会改善噪声。我会期待相反的情况。

PCB 层 pdf 有点难阅读、但我找到了充电器。我没有看到任何过孔、因此我有以下问题：

1.充电器电源板是否通过通孔连接到底层接地？

2. 顶层 GND 引脚是否通过内部层或底层过孔连接到 PMID 电容器接地？在尝试尽可能减少噪声时、正确放置 PMID 电容器、包括接地回路通常至关重要。随附的演示文稿解释了实现最低噪声的最佳布局。

在重新布局 PCB 之前、如果您不使用 OTG、我建议将最靠近 PMID 的2个10uF 电容器替换为0.01uF 和0.1uF 或0.1uF 和1uF 电容器。这些去耦电容器可以降低 EMI。

此外、如果您不使用 OTG 模式、则不需要二极管 D2.e2e.ti.com/.../5238.bq2589xbq2419x_5F00_29xlayoutandEMIrecommendation.pdf

电源管理（参考译文帖）(Read Only)