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器件型号:BQ2970 我将 bq29702与 CSD83325双路 MOSFET 封装结合使用、并在新设计中使用。
我看到电池连接到系统后、bq29702似乎处于故障状态。 FET 封装的 COUT 栅极有效(高电平)、但 DOUT 无效(低电平)。
如果我在 FET 封装周围短暂短接、我能够使器件正常工作;但是、如果发生故障情况(经测试的 UV 故障)、器件将按预期取消 DOUT、但在故障情况纠正后绝不会重新将 DOUT 置为有效。
有什么建议吗?