尊敬的所有人:
由于随机周期后的芯片灼伤、我们面临着 bq76940的严重问题。
此外、芯片报告的读数与在多个电池中测得的读数不同。
我们认为、该问题是由引脚之间产生的负电压引起的、该电压会对 AFE 造成一些损坏。
在下面的例子中、我们展示了在没有 bq76940的情况下、在连接第一个电池(C1-C5)期间在 VC10x-VC15之间进行的测量:
值得一提的是,我们不知道这种负电压是否是问题的原因。
我们如何解决这个问题? 有什么建议可以解决这一问题?
随附了 BMS 的原理图。
e2e.ti.com/.../BMS-Schematics-1.pdf
此致、





