尊敬的 TI：
我想详细了解 SOH (健康状况)的更新标准。
(问题标记为下面的 Q #。)
该芯片是 BQ27520-G4、用于名为 EF400/EF500的型号。
(这与下面的 ID 选择无关。)
首先、参阅 TRM 文档(SLUUA35)、其描述如下。
|
2.15 StateofHealth()：0x1C 和0x1D 0x28 SOH 百分比：此只读函数返回无符号整数值、表示为 预测的 FCC (25°C，SoH LoadI)与 DesignCapacity()之比的百分比。 FCC (25°C、 SOH LoadI)是计算得出的25°C 时的满电荷容量和中指定的 SOH LoadI 数据闪存。 返回的 SOH 百分比范围为0x00至0x64、表示0至100%、 相应地。 0x29 SOH 状态：此只读函数返回无符号整数值、指示的状态 SOH 百分比。 返回值的含义为： •0x00：SOH 在初始化前无效 •0x01：即时 SOH 值准备就绪 •0x02：初始 SOH 值准备就绪。 该计算基于未学习的 Qmax、并在第一次更新 插入电池后放电期间的栅格点。 •0x03：SOH 值准备就绪。 该计算基于更新的 Qmax 值。 更新了 Qmax 值在充电/弛豫或满足快速 Qmax 条件后测量。 •0x04至0xFF：保留 |
总之、当寄存器(REG) 0x28被读取时、它被报告为电池寿命周期的百分比(%)、
当 REG 0x29为0x03时、该值有效。
此百分比值将根据更新的 Qmax 值进行更改。
1.充电/放松或
2.快速 Qmax 条件。
问题在于、我们的客户的使用模式是在白天使用的、工作后充电、因此没有多少时间放松。
(即使在自检中放电后、我们也已确认 Qmax 已更新、SOH 值也已更改。)
由于充电/放松方法、客户很难从视觉上理解电池的生命周期(SOH)
毕竟、我使用的是快速 Qmax 条件、我想更详细地了解这种情况。
激活条件如下。 (文档中要求的所有条件均适用。)
-
通过 OpConfig E [DSGFASTQM、CHGFASTQM]位启用该功能。
-
在学习周期中不使用快速 Qmax 更新算法(如果更新状态≠2)。
-
多个数据闪存参数(快速 Qmax Start DOD%、快速 Qmax End DOD%、
快速 QM 启动 V Delta、快速 Qmax 电流阈值、快速 Qmax 最小点和术语 V Delta)
配置算法
下面是问题。 (请参阅5.1.15快速 Qmax 更新)
如果启用了 CHGFASTQM、则会在完全充电终止后在 RAM 中捕获 DOD 点
(当 FC 位置位时)。 该 DOD 点可在下次放电时进行 Qmax 更新
如果未发生传统的宽松 DOD 更新、则开始。
Q1)设置 FC 位后、是否会在下一次放电开始时更新 Qmax？
Q2)是否会在安装电池后仅用1次充满电更新 Qmax？
如果启用了 DSGFASTQM、则可以在放电结束到空电附近捕获 DOD 点。 在这里
对于该 DOD 点有更多的资质要求。 当放电接近空电时、该算法
将开始尝试鉴定快速 Qmax DOD 样本。 它将每30秒开始查找一次样本
满足以下条件时：
•DOD >快速 Qmax 启动 DOD%、或
电压<(终止电压+快速 QM 启动 V Delta)
•电流< C/快速 Qmax 电流阈值
当放电停止时、如果满足以下条件、快速 Qmax DOD 点将被限定：
•快速 Qmax 测量次数>快速 Qmax 最小点
•DOD >快速 Qmax 结束 DOD%、或
电压<(终止电压+快速 Qmax 电压缓冲器)
Q3)在这种情况下、在放电至接近 EOD 后、它是否满足上述条件、是否会进行更新？
其他问题。
Q4)如果客户每次重复仅使用20%~ 80%的电池、是否无法更新 Qmax？
就这些。
谢谢、
终端
