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我们对产品线中的某些电池进行了欠充电。 由于 gg 文件中的设置、某些充电器无法与我们的电池通信、并且会过度充电。 我们的印象是、当充满电时、充电 FET 会被拉(在某个点)、并且不会有电流流动。 看起来、电荷 FET 会被拉、我们会得到 CFETF 永久故障、即使故障时间为20秒也是如此。
在我们得到该误差的位置、电流如何仍然流动?
是否有任何方法可以防止这种故障?
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我们对产品线中的某些电池进行了欠充电。 由于 gg 文件中的设置、某些充电器无法与我们的电池通信、并且会过度充电。 我们的印象是、当充满电时、充电 FET 会被拉(在某个点)、并且不会有电流流动。 看起来、电荷 FET 会被拉、我们会得到 CFETF 永久故障、即使故障时间为20秒也是如此。
在我们得到该误差的位置、电流如何仍然流动?
是否有任何方法可以防止这种故障?
Terry、
感谢您的评论、下面我用蓝色进行了一些评论、并提供了很多详细信息、如果您有任何问题、请告诉我。
[报价用户="-Terry ]Mike、您好、
好的、我假设您的 picologger 正在捕获您的运算放大器电路的输出、对吧? 因此、这看起来像是电路板上的真实信号、而不仅仅是在实际电路板级电流为零时报告虚假值的电量监测计。
[Mike]-是的、我有两个运算放大器测量同一个点、一个增益为50、另一个增益为200 (用于低电流测量)。 在本例中、是的、根据运算放大器、电路板上似乎有一个真实的信号。 但是、正如我先前所说的、在先前测试结束时、该电流在发生永久故障时不存在。 perm 故障发生在测试中大约1026分钟。 我实际上重新生成了下面8/20所示的图。 如果您查看8/20的图形、您会看到测量的电流未显示任何电流尖峰。 实际上、我的低电流(200增益)运算放大器没有报告此电流尖峰、但更高的电流(50增益)确实如此。 以下是电流较高的新图(有关我的读数的更多详细信息、请参阅以下部分):
下图是相同的测试、不同之处在于我将显示的电流范围减小至最大100mA、然后看看接下来的35分钟。 我所看到内容的总时间轴(不仅在图中、而且由 BQ 和 Pico 日志备份)。 如上所述、我使用2个运算放大器来尝试使用200和50的增益捕获低电流和高电流。 我们的 Picologger 只能升至2500mV、因此使用200增益运算放大器时、仅为2.5A、因此我无法捕获我们的完整充电电流。
1)时间戳5:07:53 AM、BQ 报告在 CFET 导通时为2192mA、电压为16445mV、因此 FET 关断。 时间戳5:07:52和5:07:54处的 Pico 测量值为2455mA 和1853mA (由50增益运算放大器捕获)。 Pico 时间戳5:07:50未在50增益运算放大器上捕获任何内容、但200增益运算放大器达到2500mV 以上(超过2500mA)、因此可能是 CFET 导通时电流脉冲开始。
2)时间戳5:07:55 AM、BQ 报告在 CFET 关闭时为94mA、电压为16254mV。 时间戳5:07:56和5:07:58处的 Pico 测量值为5mA (尽管对于该50增益运算放大器而言、这似乎是最低的、但200gain 1报告的1.7mA)。
3)时间戳5:08:18 AM、BQ 报告 PFstat 更改为20 (CFETF)。 此时报告的电流为78mA、这是在 CFET 被触发关闭后的25秒。 在此期间、BQ 首先在接下来的4秒(2个读数)内测量94mA、然后在触发 PF 之前测量78mA。 时间戳5:08:18处的 Pico 报告了1.7mA 和5.8mA (分别为200增益和50增益)。
4)时间戳5:30:20 AM、BQ 报告0mA、自上述最后一个时间戳以来为77-78mA。 时间戳5:30:20处的 Pico 报告了1.7mA 和5.9mA (分别为200增益和50增益)。
5) 5)从达到0mA 开始、它报告了0mA、直到测试结束、测试结束时间超过49小时。 在测试的剩余时间内、Pico 保持在之前的~1.7mA 和~5.7mA。
**请注意,图形中的灰色区域看起来很嘈杂,这是由于总线争用 MCU 导致 BQ 上的一些错误读数偶尔更新一些信息,您可以看到 PF 保持在20。
测量400uV 电平将导致5m Ω 感应电阻器上报告的电流为80mA。 随着您的运算放大器移至更靠近监测计的位置、现在可以看到这一点、我们认为您可能会在检测电阻滤波器网络的监测计侧注入一些意外的电流。 滤波器网络具有100欧姆电阻器、可将其与感应电阻器隔离、因此通过该滤波器 R 的4uA 电流也会产生400uV 电平。
[Mike]-那么、当 PF 明确时、为什么会立即消失。 这在我的工作台上处于空闲状态、未连接到任何有噪声的电源或任何尝试为其充电的设备。 如果这是在感测电阻的测量仪表侧注入的某种噪声、为什么它在 PF 被清除前会保持如此一致?
如果它是一致的4uA、那么当您清除 PF 并复位时、它不会改变、因此这些操作似乎会触发变化。 当您处于 PF 状态并且正在测量此电流时、是否仍连接17V 充电器电压? 如果是、在移除充电器电压时它是否会改变读数?
[Mike]-不是的、我没有、它在我的工作台上空闲。 我从外部为3.3V 电源轨供电、以便与 PF 通信并将其清除。 该3.3V 电源轨由 LDO 供电、电源和接地分别连接在 FET 和感应电阻器之后、因此其返回电流不是通过感应电阻器、因此看不到。
如果仍然连接、当您清除 PF 并复位时、我假设 CHG FET 可能会重新导通、对吗? 因此、开通可能会触发导致该电流的东西。
[Mike]-我假设 CHG FET 重新打开、但现在无法验证、因为该电池组不处于相同的状态。 导通会如何导致该电流? 如果清除 PF 使该电流消失、FET 的开启是否会使该电流消失、因为没有连接到充电器?
您是在实验中使用真实的电池组、还是在电源中生成的电池组? 如果来自电源、您能否测量从电源流入电路板的电流以及从充电器流入电路板的电流? 只是为了确保没有"实际"80mA 流过任何地方、这应该很容易测量(不过、测量额外4uA 可能更困难)。
[Mike]-这是一个连接的实际电池、而不是电源。
[Mike]-另一个同时具有 PF 的电池在我的桌子上仍处于空闲状态、与 PF 一起。 我的运算放大器仍然连接在感应电阻器上、并且当前不测量电流。 我可以尝试在不首先从电路板上移除电源的情况下、在靠近 Bq 器件的位置进行测量、但可能会很困难、因为它组装在电池组中并安装在电路板的底部。
测试结束后、情况如何? 您能够在硬件上重新创建类似的故障、您不能吗?
谢谢、
Terry
BATT/Terry
我相信 Dave 错误地说、这听起来像是在发生什么。 您在上面提到过"您是否在故障状态下测量了 CHG FET 端子电压?"。 我这里有一个电池组、它的 PF、我刚刚直接测量了 CHG FET 上的 VGS、我得到的值大约为-650mV。 看起来有一些"噪声"或底部有一些噪声、从-550mV 降至-630mV。 我拍摄了3张示波器照片(如下所示)来向您展示这一点。 我假设这是 BQ 末端的东西、我将在没有任何接地环路的情况下直接测量 FET 上的引脚、并且我们的所有电路都关闭。 无论如何、-550mV 及更低电压肯定会使该 N 沟道 FET 保持关断状态。
您还提到了"切换到泄漏电流较低的 FET 可以解决问题"。 我不相信该泄漏电流会流经 FET、我们的 FET 具有一个100nA 的栅极漏电流源。
谢谢、
Mike
Terry / Batt
我在使用 Picologger 进行测量时、充电器上的另一个电池组出现故障。 该设置旨在测量类似于8/28中结果的电流、更接近 BQ 感应输入、而不是直接穿过感应电阻器。 测试中发生故障的时间约为124分钟、请参见下图。 CHG FET 已在测试中经过~72分钟后关闭。 BQ 在 FET 的这段"关断时间"内即开始测量电流。 与 PicoLogger 相比、未测量电流(Pico 显示为5mA、但如前所述、该运算放大器和设备的标记为0)。 请参阅下图:
谢谢、
Mike
我知道 Terry 已经离开了、但我们需要尽可能加快这一速度。 我们已经达成了几种方式,包括提供支持。 您已经看到故障、我们也是如此。 我们不在这里玩指责游戏,我们只是需要一个解决办法,我们几周前就需要它。 我们不关心是我们的故障还是 TI、我们需要解决这个问题。 我们关心的是分辨率。 我们已将电路板发送出去、您已经在本周内完成了。 我们可以在一天之内使电路板发生故障。 您是否需要帮助才能使它们发生故障? 我本来希望这项工作已经完成。 如果没有、您能为我们设定期望吗?
话虽如此:
1.你什么时候希望得到解决?
2.你需要我们做些什么? 自此以来、我们有165个以上的周期、这些周期是从几次故障开始的。 我们是否可以采取行动来提供帮助?
3.有没有办法让这成为你们的优先事项?
Mike、Dave、
我们已尝试在您的设备上复制此内容。 我们的问题是、一旦我们达到 COV 并且 FET 关闭、通信就会变得非常间歇。 这是因为您的 MC 也在使用相同的 i2c 线路进行通信吗? 我们在过去2天的日志中发现、COV、OC 和 CHGFET 在两种情况下都关闭、其中一种情况具有保护故障、另一种情况没有故障。 这些设置与您的板附带的设置相同。
我们仍在处理您的问题、但无法在电路板上重现您的问题。 很抱歉、这需要的时间比预期的要长。