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[参考译文] WEBENCH®︎工具/LP2985:相位噪声的 OCXO 恶化

Guru**** 2487425 points
Other Parts Discussed in Thread: LP2985

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/702754/webench-tools-lp2985-ocxo-deterioration-of-phase-noise

器件型号:LP2985

工具/软件:WEBENCHRegistered设计工具

尊敬的所有人:

LP2985已使用超过10年。 最近发现、某些 LDO 会导致 OCXO 的相位恶化10dBm。

图:OCXO 相位噪声(First-NG、second-OK)

在交换测试中、芯片问题。

测试条件:
VIN = 5V,由适配器或电池供电。
当 LP2985工作时、在前3分钟内输出电流约为100mA。 此时、环境温度将从30°C 上升到大约80°C 之后、输出电流约为30mA、环境温度也为80°C

VOUT:

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好、Chen、

    感谢您提供噪声图! 遗憾的是、LDO 噪声被定义为 LDO 自身产生的噪声、因此我们在应用中唯一可以做的就是滤除噪声。

    主要噪声源是内部电压基准。 LP2985具有旁路引脚、允许我们添加一个电容器来滤除此噪声。 根据数据表、增大电容器的影响会饱和至10nF 左右。

    我们唯一能够滤除 LDO 产生的噪声的其他地方是在输出轨上。 增加输出电容器或在输出上添加其他额外滤波将进一步滤除输出噪声。

    以下文章进一步详细介绍了如何降低 LDO 噪声:

    www.ti.com/.../slyt489.pdf

    非常尊重、
    Ryan