VCC=5V 电池=0V
我们在 F/W 下使用了 TLE4275-Q1作为负载 我们发现 VCC (来自 USB) 不稳定,因此出现故障。 您能否帮助检查 导致问题的原因、泄漏电流或容性负载等
PS:我们替换 Infineon‘t 4275 和 O 4275不能正常工作
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VCC=5V 电池=0V
我们在 F/W 下使用了 TLE4275-Q1作为负载 我们发现 VCC (来自 USB) 不稳定,因此出现故障。 您能否帮助检查 导致问题的原因、泄漏电流或容性负载等
PS:我们替换 Infineon‘t 4275 和 O 4275不能正常工作
尊敬的 Jason:
当由于 VIN 而导致的功率/功率下降为开路时、TLE4275无需工作。 这样 TLE4275就像负载一样工作、并且输出连接到5V 形式的 JTAG。TLE4275的总输出电容大约为150uF。
在同一应用中、使用竞争对手器件时、低 F/W 是可以的、但 TI'TLE4275无法正常工作。 您能否帮助解释 TLE4275和 Infineon‘t 4275 和 Infino 4275之间的区别
PS: 在‘TI 的 TLE4275时、故障可能会成功。 但 它不稳定性、需要更长的计时器才能进行降压
非常感谢
尊敬的 Jason,
我的问题如下所示,请给我们一个机会
SCH 如下所示
2、描述
A、TLE4275’VIN=0
B、VCC5C=5V(来自 JTAG)
C、TLE427'5 SET 用于在向下计数时复位 MCU
测试完成后,当使用 JTAG 关闭 F/W 时,5 TLE427'Set 为低电平,我们发现 MCU 无法复位,并且 F/W 故障。 但:将 Infineon TLE4275G 替换为 P2P,TLE4275G 的 RQ (REST)很高,F/W 会降低成功。 在同一设计中,TI TLE4275的复位部分为高电平,部分为低电平,这是很奇怪的。 您是否能帮助检查原因是什么并为问题提供一些建议
PS:您能否向我分享您的邮件以实现更有效的沟通