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器件型号：BQ30Z554-R1 主题中讨论的其他器件： BQEVSW
我有几个问题与下面的(1)-(3)项有关：
当测试用 BQ30Z554-R1制造的生产线上新鲜的电池组时、电量监测计报告生产状态为0x01FE 或0x01F8。 将电池组提交到相同的测试序列后、"制造状态"可以在两个值之间翻转。 (1)我想了解导致更改的原因、(2)如何确保制造状态寄存器在测试结束时结束0x01F8。
根据 bq30z554-R1技术手册第86-87页、配置状态的两个值之间的差异为位1 (CHG - CHG FET)和位2 (DSG - DSG FET)。 (3)制造状态寄存器的具体作用是什么、这些位的含义/用途是什么？ 技术手册第10.43节的解释太简短。
谢谢、
