[参考译文] bq27541：bq27541

感谢您的回复、Onyx。

您能解释一下需要30秒时间的电路板偏移是什么？ 我认为它是利用时间对大量读数求平均值、以获得非常小的低于1mA 的偏移值。 如果是这样、来自测量仪表的0mA 报告可能反映+/- 0.5mA 之间的实际值、但不会消除进行电路板偏移测量的可取性。 再次提前感谢您的回复。

您好、Onyx、

   我很抱歉在这里打败了一匹死马、但我想比我更好地理解。

   如果只执行 CC 偏移、则运行时间几乎不会超过16秒。 我假设该 CC 偏移校正进行一次测量、分辨率为1mA。 在这种情况下、如果监测计在没有电流流动时已经报告0mA、则没有理由单独运行 CC 偏移。

   但是、如果采集16个样本集、我假设将对它们取平均值。 除非该平均值导致分辨率远低于1mA、否则我看不到这样做有什么好处。 我假设这种分辨率低得多的测量能够改善 CC 寄存器的归零。 但是、无法知道具有特定低于1mA 偏移的电池是否会从中受益、因为监测计报告的分辨率仅为1mA。

  根据这种推理、从测量仪表读取0mA 并不能指导用户了解电路板失调电压是否有益。

  再次提前感谢您的回复。

您好、Onyx、

  我正在努力做到清楚。 请记住、当没有电流流动时、我的电池组汇编器读取当前寄存器。 如果值为零、则不执行任何操作。 如果不为零、它们会在生产中的每个单元上运行电路板偏移。 我对此有疑问。

1. 什么测量结果会指示我执行更长的电路板偏移校正、而不是执行更短的 CC 偏移计算？
2. CC 偏移测量的分辨率是否为1mA？ 还是具有较小的分辨率？
3. 在存在噪声的情况下、一系列平均测量可以产生比单次测量分辨率更小(更好)的结果。 示例：.001、.001、.001和.002的平均值为.00125。 如果应用此值、可能会导致更精确的校正。 这是电路板偏移对多个测量执行的操作吗？ 如果不是、电路板偏移测量的结果是什么-如何处理它？