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器件型号：LM26420 我们看到 LM26420的故障相当一致。 多年来、我们一直在许多设计中使用此器件、因此我们发现这种情况令人吃惊。 我们发现、在某些器件上、输出2上的低侧 FET 在多次上电后发生分解。 我们通过隔离输出并测量输出到 GND 来检测这一点。 初始电阻是 Ks 到 GND 的倍数、当我们看到此击穿时、GND 的输出电阻降至几欧姆、然后亚欧姆。 该部件此时变得非常热、显然无法调节。
此器件最近是否发生了芯片变化？ 有什么想法会导致此故障？ 我们正在尝试在不同 PCB 上进行相同的测试、以查看测试是否同样失败。
附在原理图中：
任何输入都很有用。
