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尊敬的专家
目前、在36个老化的产品中、有6个正在老化的 PMBus 无法与 MCU 通信、电池停止充电和放电。 卸下电池保护板、选择 EV2300通信、仍无法通信。
与客户一起进行 ABA 验证实验、并更换为新的 BQ40Z80、通信可以正常、可以实现正常充电和放电。
你可以帮助检查原理图 吗?
您好、Gabriel:
您能定义老化测试涉及什么吗? 如果您超出绝对最大额定值、可能会看到监测计故障。
您还能否提供 TS 线的示波器捕获、以便我们可以验证监测计在通电时是否处于活动状态? 它应该会产生脉冲~250ms。
此外、请将 PBI 电容增加到~10uF、以查看这一问题是否得到解决、由于多个并联 FET 需要大量电流来快速导通、因此这可能导致测量仪表欠压。
此致、
怀亚特·凯勒
尊敬的 Wyatt
感谢您的回复。
下面是 TS 线波形。
我们将 PBI 电容增加到10uF , IC 仍然无法连接或打开 CHG & DSG 驱动器。
进入 紧急 FET 关断状态?
你好,怀亚特
老化测试意味着 对已安装的电池组反复充电和放电。
我们用一个新的良好 IC 替换了它、发现第二天出现了同样的坏现象。 TS 引脚有 大约250ms 的脉冲、无法通信、IC 无法充电或放电。
这是我们的.gg 文件,请帮助检查 该设置是否可行。
尊敬的 Wyatt
如何让监测计脱离 不间断的静息 模式?
我们一直在这个问题上、不知道如何开始。
您好、Gabriel:
电量监测计进入此模式后无法恢复。 您必须确保 TS 线上的电压不超过绝对 最大值。
您能否通过一个良好的单位来确认波形确实不同? 很难确切地判断 捕获中发生了什么、我想确保这是根本原因。
此致、
怀亚特·凯勒
尊敬的 Wyatt
感谢回复,下面是良好的单位 TS1 & TS2波形. 有时 TS1或 TS2会脉动两次。
您好、Gabriel:
是的、但每个脉冲的波形相同、对于故障单元、它应该是非常接近的双脉冲、第一个脉冲具有不同的导通时间。
此致、
怀亚特·凯勒
尊敬的 Wyatt
是的,对于故障单元,TS 引脚有一个非常接近的双脉冲,我们测试新的良好单元 ,但无法找到任何异常脉冲,你能给出一个提示,如何测试什么可能导致 BQ40Z80失败。
异常脉冲:
正常脉冲和正常脉冲放大:
您好、Gabriel:
这将确认 TS 线路上电压高于绝对最大值时出现的故障。 我建议为 TS 线路添加额外的保护(~10nF 电容器)、并尝试捕捉噪声可能耦合到 TS 线路的任何工作模式。
您是否能够共享布局?
此致、
怀亚特·凯勒
尊敬的 Wyatt
这是 PCB 文件
您好、Gabriel:
Wyatt 不在办公室、将在他周一返回后回复
您好、Gabriel:
我没有用于查看共享的.pcb 文件的软件。 请以 Altium 格式共享文件或共享查看软件。
此致、
怀亚特·凯勒
尊敬的 Wyatt
很抱歉,更新的很晚,我们只有一个 PDF 版本的 PCB 布局. 您可以帮助检查吗?
现在我们将30pcs 的样品发送给客户再次测试,客户发现4个30pcs 良好的样品故障延迟时加电时,添加电池组.
您好、Gabriel:
从较高层次的审查来看、布局似乎相当不错、您能否突出显示 TS 线路布线? 电池组插入过程中 TS 线路上的任何瞬变都可能导致此类故障、TS 线路上增加的电容应通过衰减 TS 引脚上的最大电压来帮助减少发生。
此致、
怀亚特·凯勒