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尊敬的专家
目前、在36个老化的产品中、有6个正在老化的 PMBus 无法与 MCU 通信、电池停止充电和放电。 卸下电池保护板、选择 EV2300通信、仍无法通信。
与客户一起进行 ABA 验证实验、并更换为新的 BQ40Z80、通信可以正常、可以实现正常充电和放电。
你可以帮助检查原理图 吗?
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您好、Gabriel:
您能定义老化测试涉及什么吗? 如果您超出绝对最大额定值、可能会看到监测计故障。
您还能否提供 TS 线的示波器捕获、以便我们可以验证监测计在通电时是否处于活动状态? 它应该会产生脉冲~250ms。
此外、请将 PBI 电容增加到~10uF、以查看这一问题是否得到解决、由于多个并联 FET 需要大量电流来快速导通、因此这可能导致测量仪表欠压。
此致、
怀亚特·凯勒
你好,怀亚特
老化测试意味着 对已安装的电池组反复充电和放电。
我们用一个新的良好 IC 替换了它、发现第二天出现了同样的坏现象。 TS 引脚有 大约250ms 的脉冲、无法通信、IC 无法充电或放电。
这是我们的.gg 文件,请帮助检查 该设置是否可行。