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[参考译文] BQ2970:OCD 和 SCD 之间的区别是什么

Guru**** 1469850 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1328329/bq2970-what-is-the-difference-between-ocd-and-scd

器件型号:BQ2970

您好!

对于过放电电流和短路检测,我有点困惑。

正如数据表中所提到的 OCD 和 SCD 是基于 V-到 VSS 电压检测的,其中 SCD 将考虑在10us 内增加。

在我的电路中、当 OCD 被触发时、就如告知的那样、DOUT 变为低电平、但当我降低负载电流时它不会保留、为什么会这样?  

而在 SCD 中,当短路被释放时,它将保持正常状态,因为两者都取决于 V-到 VSS 电压,这是正确的吗?

您能简要解释一下 OCD 和 SCD 之间的区别吗?

此致、

S·库马尔

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    尊敬的 Sanath:

    该器件上的 OCD 和 SCD 保护不会因为放电电流减小而恢复。 它们会在负载移除后恢复。

    当保护触发且 DSG FET 关闭时、V-被负载上拉至 BAT+。 当负载移除后、V-由内部的小电流阱下拉至 VSS。 一旦 V-降至~V_BAT - 1V 以下、器件将恢复保护。

    此致、

    马克斯·韦博肯

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    Hi max:

    感谢您的澄清。

    我有另一个疑问,当任何故障情况上升任何一个 FET 将被关闭右,那么电路将开路,那么保护 IC 如何从保护恢复?

    那么、我应该在哪一点 测量 FET 的压降?

    我如何确定 FET 的温度?

    此致、

    S·库马尔

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    尊敬的 Sanath:

    在 COV 条件(过压)下、CHG FET 将关闭、但是为了恢复保护功能、电池仍然能够通过 FET 的体二极管放电。

    在 CUV 条件下(欠压)、DSG FET 将关断、电池仍能够通过体二极管充电恢复。

    当前的保护和恢复功能将如前所述。

    以及在哪个点我应该 测量 FET 的压降?

    您是指栅源电压吗? 这可通过 COUT/DOUT 引脚进行测量。

    如何确定 FET 的温度?

    该器件不包含温度保护功能、因此您需要在 FET 附近使用一个外部热敏电阻及其自己的电路来控制/读取该热敏电阻。

    此致、

    马克斯·韦博肯

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    高最大值、

    感谢您提供的信息。

    我想检查 MOSFET 的漏源电压、所以我可以从哪一点检查?

    此致、

    萨纳特库马

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    尊敬的 Sanath:

    如果要检查两个 FET 上的压降、则可以测量 PACK-和 BAT-之间的电压。 如果您希望单个 FET 的压降、可能需要向 FET 的共漏极添加一个测试点。

    此致、

    马克斯·韦博肯