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[参考译文] BQ76952:TIDA-010208设计中的 Regen 处的充电 FET 损坏

Guru**** 2578945 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ76952, TIDA-010208

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1321926/bq76952-charge-fet-damage-at-regen-in-tida-010208-design

器件型号:BQ76952
主题中讨论的其他器件: TIDA-010208

我们将在16节电池 BMS 中使用 BQ76952。 如果在充电期间发生过流、AFE 会根据充电电流阈值、通过微控制器的命令关断充电 FET。 断开 FET 后、我们观察到 PACK+引脚上的电压增加到95V、随后驱动充电 FET 栅极的 AFE CHG 引脚电压意外上升。 这会导致对在线性区域工作的 FET 进行充电、从而损坏 FET。

信号定义:

  • 黄色:具有接地端(BAT-)的充电 FET 栅极
  • 浅蓝色:BAT+
  • 紫色:数学函数、其中表示充电 FET 栅源电压
  • 粉色:CHG 和 DSG FET 的公共漏极、具有.r.t 接地(BAT-)
  • 深蓝色:1V 表示10A 的电流

下面是一张快照、其中电荷 FET 在转换到线性区域后会损坏、

上述设计中遵循的 MOSFET 栅极电路符合 TIDA-010208。

通过移除限流电阻并测量 CHG 引脚的电压、执行以下测试来推断来自 AFE CHG 引脚的电压泄漏。

此处、DSG FET 和 CHG FET 已关断、电池电压约为53V。 当 PACK+上的浪涌为135V 时、可在 AFE 内部观察到 CHG 引脚和电荷泵中存在感应电压。 这种疑似电压升高可能会导致电荷 FET 进入线性区域、进而导致故障。

信号定义:

  • 黄色:CHG 引脚接地(BAT-)
  • 粉色:CHG 和 DSG FET 的公共漏极、具有.r.t 接地(BAT-)
  • 深蓝色:电流
  • 浅蓝色:CP1引脚接地(BAT-)(隐藏在黄色信号后面)

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的嵌入式开发人员:

    是的、我们以前已经看到过这种情况。 当 LD 引脚低于 DSG 引脚时可能会发生这种情况、这会导致内部 P-FET 导通、从而使 DSG 电压达到 CP1电压。 通常、只要 DSG 测得的电压低于 CP1、LD 低于 DSG 是可以的。

    如果 DSG 电压大于 CP1电压、则会导致 CP1增加。 这通常不会产生任何问题、但如果 CP1增加~20V、则会导致 CP1开始提高 BAT 引脚电压、从而导致 CHG FET 意外导通。

    您可以采取以下几种措施来缓解此问题:

    • 确保 LD 不会低于 DSG
      • 如果 LD 连接到 PACK+、这通常不是问题。
      • 由于您在使用 TIDA-010208、您可能在 LD 上具有一个齐纳二极管、该齐纳二极管很可能是 LD 低于 DSG 的原因。
        • 但是、这意味着 LD 可能会暴露在极高的电压下。
    • 确保 DSG 未检测到高于 CP1的电压。
      • 如果 PACK+的电压大于 CP1电压、则它可能泄漏到 DSG。 有时、如果 PACK+不会高出 DSG 太多、则添加背对背齐纳二极管就足够了、如下所示:
    • 钳制 CP1电压、以确保其不会超过 BAT 以上20V。
      • 齐纳二极管+ P-FET 都可以工作、如下所示:

    很抱歉这里有问题 如果您有任何其他问题、请告诉我。

    此致、

    路易斯·埃尔南德斯·萨洛蒙