[参考译文] BQ76952：BQ76952：退出 DEEPSLEEP 模式

在 进入 NORMAL 模式之前、它 首先完成完整的测量循环并评估与启用保护相关的条件、我想知道在此期间(似乎需要250ms、所有 FET 都关断)、 评估与启用保护相关的哪些条件？

您好， Luis H. S

在我的测试中,我发现当我发送0x000E EXIT_DEEPSLEEP ()命令时,该器件 立即 将  Control Status () [DEEPSLEEP ]从1更改为0  ,并且在大约250ms 后,所有 FET 仍然关闭。 这就是所谓的"在此期间(似乎需要250ms、所有 FET 都关断)"、然后它会将 Alarm Raw Status ()[WAKE]从0更改为1、然后器件将打开所有 FET、然后它开始使电流流经负载。

根据 您的回答,当我发送 0x000E EXIT_DEEPSLEP()命令时,为什么器件不会  立即打开所有 FET ,而是保持所有 FET 关闭?

在我的测试中,有时在 我发送0x000E EXIT_DEEPSLEEP ()命令后,设备会 立即 将  Control Status () [DEEPSLEEP ]从1更改为0 , 但在 将 Alarm Raw Status()[WAKE]从0更改为1之前，设备有时可能会进行重置，我不知道为什么会进行重置？

尊敬的 Yubin：

FET 的导通时间可能长达~250ms。 这是正常现象、每次 FET 导通时、花费的时间最多会达到250ms。

您能否指定复位的含义？

此致、

路易斯·埃尔南德斯·萨洛蒙

在 我的 ，中,  我发现在我发送了0x000E EXIT_DEEPSLEEP  ()命令之后,在将 Alarm Raw Status()[WAKE]从0更改为 1之前,INITCOMP 有时可能会从1变为0然后再变回1 ,所以我 guest 它会在特定情况下进行复位。 但是、我没有发送任何复位命令、也没有使用 RST_SHUT 引脚在此期间执行复位、所以我想知道在哪些情况下会导致器件执行复位？

您好， Luis H. S

根据 您的回答，我使用 TI 的 BQ76952 EVM 板进行测试，当将 Alarm Status ()[WAKE]从0更改为1时，所有 FET 开始打开，所有 FET 只需不到2ms 的时间即可打开， ？需要远小于250ms 的时间来开启所有 FET Δ T、并且 在将  Control Status () [DeepSleep ]从1更改为0后、所有 FET 将关断并且不会开始打开、因为 CHG 和 DSG 保持与 DeepSleep 模式下的电压相同。

尊敬的 Yubin：

我对您的问题有点困惑。 您能解释一下吗？

现在、FET 打开指示灯、持续时间达到250ms。 这意味着它可能需要任何时间达到通常为 250ms 的上部时间、这意味着它可以在250ms 之前打开。 器件每250ms 检查一次 FET 状态所需的值、因此根据此检查周期所处的位置、器件可能会在250ms 之前导通。

此致、

路易斯·埃尔南德斯·萨洛蒙

尊敬的 Yubin：

通常、在 DEEPSLEEP 模式下、大多数内部模块都会断电。 因此、当器件退出 DEEPSLEEP 时、大多数器件会再次阻止加电。

如前所述、该器件每250ms 评估一次何时开启 FET。 因此、该250ms 周期可能会在器件退出 DEEPSLEEP 模式时开始。 这意味着 FET 开启需要~250ms、然后驱动器强度是额外的延迟、因此2ms 只是打开 FET 的实际驱动器。

是否需要比250ms 更快的导通？

此致、

路易斯·埃尔南德斯·萨洛蒙

您好， Luis H. S

根据 您的答案、只要器件退出 DEEPSLEEP、它就会直接进入 NORMAL 模式。

首先、它会再次为器件上电、并且因为 器件每250ms 评估一次何时开启 FET、FET 需要~250ms 才能开始开启、在 额外的延迟之后、FET 完全打开。

然后在大约250ms 后、它开始构建并 完成 完整的测量循环、 并评估与启用保护相关的条件、以确保条件可以接受进入正常模式、因此 BQ76952 RTM 会写入"这可能需要≈250ms 加上测量循环完成的时间。" 对吧？

由于 BQ76952 RTM 写入"评估条件"和"可接受"、因此我认为"有任何条件会停止进入正常模式吗？" 如果器件停止以 进入 NORMAL 模式、则表示它进入了 SLEEP 模式或 DEEPSLEEP 模式？

但您说过"只要器件退出 DEEPSLEEP、它就会直接进入正常模式。"  

尊敬的 Yubin：

Unknown 说：

 根据您的答案，只要设备退出 DeepSleep，它就会直接进入正常模式。

是的。

Unknown 说：

首先、它将重新为器 件加电、并等到器件每250ms 评估何时开启 FET、FET 开始开启需要~250ms、 再经过额外的延迟后、FET 将完全打开。

是的。 我认为您的意思是 FET 完全闭合(这意味着 FET 导通)、断开意味着 FET 关断。

Unknown 说：

然后过了大约250ms 后，它开始建立并 完成 完整的测量循环， 并评估与启用保护相关的条件、以确保条件可以接受进入正常模式、因此 BQ76952 RTM 会写入"这可能需要≈250ms 加上测量循环完成的时间。" 对吗？

否、测量环路会在器件退出 DEEPSLEEP 后立即发生、不会等待 FET 导通。 因此该部件退出 DEEPSLEEP、然后进行测量循环、所需的时间远小于250ms。 然后、如果条件允许 FET 在250ms 周期结束后导通、这与测量环路同时发生。

Unknown 说：

但是您说过"只要设备退出 DEEPSLEEP，它就会直接进入正常模式。"  [/报价]

是的。 当该器件退出 DEEPSLEEP 时、它将首先进入 NORMAL 模式、然后再进入 SLEEP 模式。

此致、

路易斯·埃尔南德斯·萨洛蒙

您好， Luis H. S

Unknown 说：

否，测量环路会在设备退出 DeepSleep 模式时立即出现，它不会等待 FET 开启。 因此该部件退出 DEEPSLEEP、然后进行测量循环、所需的时间远小于250ms。 然后、如果条件允许 FET 在250ms 周期结束后导通、这同时发生在测量环路上。

根据 您的答案、  测量环路在器件退出 DEEPSLEEP  后立即发生、用于决定是否在250ms 周期结束后允许 FET 导通、对吧？

如果正确、在什么情况下 、器件可能不允许  在250ms 周期结束后 FET 导通并使 FET 保持关断？