您好
我有疑问需要您的帮助。
当该器件退出 DEEPSLEEP 模式时、它首先完成一个完整的测量循环并评估与启用的保护相关的条件、以确保这些条件可以继续进入 NORMAL 模式。
评估了哪些相对于启用保护的条件?
谢谢
星形
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您好, Luis H. S
在我的测试中,我发现当我发送0x000E EXIT_DEEPSLEEP ()命令时,该器件 立即 将 Control Status () [DEEPSLEEP ]从1更改为0 ,并且在大约250ms 后,所有 FET 仍然关闭。 这就是所谓的"在此期间(似乎需要250ms、所有 FET 都关断)"、然后它会将 Alarm Raw Status ()[WAKE]从0更改为1、然后器件将打开所有 FET、然后它开始使电流流经负载。
根据 您的回答,当我发送 0x000E EXIT_DEEPSLEP()命令时,为什么器件不会 立即打开所有 FET ,而是保持所有 FET 关闭?
在我的测试中,有时在 我发送0x000E EXIT_DEEPSLEEP ()命令后,设备会 立即 将 Control Status () [DEEPSLEEP ]从1更改为0 , 但在 将 Alarm Raw Status()[WAKE]从0更改为1之前,设备有时可能会进行重置,我不知道为什么会进行重置?
在 我的 ,中, 我发现在我发送了0x000E EXIT_DEEPSLEEP ()命令之后,在将 Alarm Raw Status()[WAKE]从0更改为 1之前,INITCOMP 有时可能会从1变为0然后再变回1 ,所以我 guest 它会在特定情况下进行复位。 但是、我没有发送任何复位命令、也没有使用 RST_SHUT 引脚在此期间执行复位、所以我想知道在哪些情况下会导致器件执行复位?
您好, Luis H. S
根据 您的回答,我使用 TI 的 BQ76952 EVM 板进行测试,当将 Alarm Status ()[WAKE]从0更改为1时,所有 FET 开始打开,所有 FET 只需不到2ms 的时间即可打开, ?需要远小于250ms 的时间来开启所有 FET Δ T、并且 在将 Control Status () [DeepSleep ]从1更改为0后、所有 FET 将关断并且不会开始打开、因为 CHG 和 DSG 保持与 DeepSleep 模式下的电压相同。
尊敬的 Yubin:
通常、在 DEEPSLEEP 模式下、大多数内部模块都会断电。 因此、当器件退出 DEEPSLEEP 时、大多数器件会再次阻止加电。
如前所述、该器件每250ms 评估一次何时开启 FET。 因此、该250ms 周期可能会在器件退出 DEEPSLEEP 模式时开始。 这意味着 FET 开启需要~250ms、然后驱动器强度是额外的延迟、因此2ms 只是打开 FET 的实际驱动器。
是否需要比250ms 更快的导通?
此致、
路易斯·埃尔南德斯·萨洛蒙
您好, Luis H. S
根据 您的答案、只要器件退出 DEEPSLEEP、它就会直接进入 NORMAL 模式。
首先、它会再次为器件上电、并且因为 器件每250ms 评估一次何时开启 FET、FET 需要~250ms 才能开始开启、在 额外的延迟之后、FET 完全打开。
然后在大约250ms 后、它开始构建并 完成 完整的测量循环、 并评估与启用保护相关的条件、以确保条件可以接受进入正常模式、因此 BQ76952 RTM 会写入"这可能需要≈250ms 加上测量循环完成的时间。" 对吧?
由于 BQ76952 RTM 写入"评估条件"和"可接受"、因此我认为"有任何条件会停止进入正常模式吗?" 如果器件停止以 进入 NORMAL 模式、则表示它进入了 SLEEP 模式或 DEEPSLEEP 模式?
但您说过"只要器件退出 DEEPSLEEP、它就会直接进入正常模式。"
尊敬的 Yubin:
根据您的答案,只要设备退出 DeepSleep,它就会直接进入正常模式。
是的。
首先、它将重新为器 件加电、并等到器件每250ms 评估何时开启 FET、FET 开始开启需要~250ms、 再经过额外的延迟后、FET 将完全打开。
是的。 我认为您的意思是 FET 完全闭合(这意味着 FET 导通)、断开意味着 FET 关断。
然后过了大约250ms 后,它开始建立并 完成 完整的测量循环, 并评估与启用保护相关的条件、以确保条件可以接受进入正常模式、因此 BQ76952 RTM 会写入"这可能需要≈250ms 加上测量循环完成的时间。" 对吗?
否、测量环路会在器件退出 DEEPSLEEP 后立即发生、不会等待 FET 导通。 因此该部件退出 DEEPSLEEP、然后进行测量循环、所需的时间远小于250ms。 然后、如果条件允许 FET 在250ms 周期结束后导通、这与测量环路同时发生。
但是您说过"只要设备退出 DEEPSLEEP,它就会直接进入正常模式。" [/报价]是的。 当该器件退出 DEEPSLEEP 时、它将首先进入 NORMAL 模式、然后再进入 SLEEP 模式。
此致、
路易斯·埃尔南德斯·萨洛蒙
您好, Luis H. S
否,测量环路会在设备退出 DeepSleep 模式时立即出现,它不会等待 FET 开启。 因此该部件退出 DEEPSLEEP、然后进行测量循环、所需的时间远小于250ms。 然后、如果条件允许 FET 在250ms 周期结束后导通、这同时发生在测量环路上。
根据 您的答案、 测量环路在器件退出 DEEPSLEEP 后立即发生、用于决定是否在250ms 周期结束后允许 FET 导通、对吧?
如果正确、在什么情况下 、器件可能不允许 在250ms 周期结束后 FET 导通并使 FET 保持关断?
尊敬的 Yubin:
根据您的答案, 在设备退出 DEEPSLEEP 后立即发生的测量循环用于决定是否在250ms 周期结束后允许 FET 导通,对吗?
可以。 要使其生效的 FET 导通在250ms 周期内发生。
如果正确,在什么情况下, 器件可能 在250ms 周期结束后不允许 FET 开启并使 FET 保持关闭?
这取决于您拥有哪些保护以及它们是否触发。
或者、您可以使用某些命令、这可能会使 FET 保持关断状态。
此致、
路易斯·埃尔南德斯·萨洛蒙