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[参考译文] BQ27Z746：所有项 V 具有由闪存篡改引起的 SOC 跳频

admin
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请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1318556/bq27z746-all-term-v-have-soc-hopping-caused-by-flash-tampering

器件型号：BQ27Z746
主题中讨论的其他器件：BQSTUDIO

正常温度和低温-10度条件：测试三个整机、电池锁定(密封状态)、术语 V 有 Flash 篡改、篡改、从3400mV 到13482mV、SOC 分别从81%和74%跃升。

该如何解决该问题？

整个机器的数据日志如下所示：