[参考译文] BQ76952：TS1

您好、Max：

感谢您的回答、我的问题已经解决、我想进一步了解。 我的 COV 和 CUV 的恢复时间现在有点高、这种现象仅发生在 COV 和 CUV 上。 我的恢复时间是3s、但当我使用示波器进行检查时、实际恢复时间约为4s。 所以我想知道为什么这种现象出现在 COV 和 CUV 的恢复中。
谢谢。

您好、Max：

CHG FET Protections A 设置0x98、DSG FET Protections A 设置0xE4。只有 COV 和 CUV 恢复时才是这种情况

您好、Max：

当我使用 SCD 时、我使用外部短路方法来测试 SCD、我发现会出现 SCD 故障现象。 当我设置外部短路时、它会在保护时间大于90uS 时自动关断 FET、但不会显示故障。 相反,当保护时间小于90uS 时,一切都是正常的。 请问原因是什么？

尊敬的 Zhang：

您能否显示 COV/CUV 恢复延迟的波形？ 请注意、电芯电压超过其迟滞阈值(COV：CELL_V = COV_Threshold - COV_Hysteresis；CUV：CELL_V = CUV_Threshold + CUV_Hysteresis)后、恢复计时器才会启动。

关于 SCD、您是否能够捕获 SRP 和 SRN 引脚之间尽可能靠近引脚的电压波形、并记录 SCD 设置是什么？ 这样、就可以更轻松地确定器件实际看到的内容以及是否应触发 SCD。

此致、

马克斯·韦博肯

您好、Max：

这是我被外部短路截获的 SRP 两端 SRN、电压和短路电流的波形。 第一幅是 SCD 保护时间大于70us 的波形、第二幅是 SCD 保护时间小于70us 的波形、当这个值大于70us 时、BQ 就会报告故障。 但是、这两种方法都受到 BQ 的保护、只有故障报告方面的差异

您好，Max M ü，

我发现、当 BQ 中发生 COV 时、我使用放电、它将无法恢复、CUV 将无法因充电而恢复。
期待您的回复。

尊敬的 Zhang：

Protections：SCD：Delay 控制测得的电流必须超过阈值才能触发 SCD 故障的时长。 如果在时间增加之前测量的电流降至阈值以下、则不会触发故障。 您可能需要检查 SCD 未触发但 FET 关断而未触发另一个故障的事件。

对于 COV 和 CUV、可以记录此行为吗？ 测量所有电池电压(器件的测量、而不是物理测量)和 Safety Status A-C 寄存器。 还要记下 COV 和 CUV 阈值的设置、以及每个阈值的恢复迟滞设置。

此致、

马克斯·韦博肯

您好、Max：

我想知道这个问题的答案。

谢谢。

尊敬的 Zhang：

1.您可以尝试 VSS 在示波器上采集 SRP-SRP-SRN 和 VSS 电压、看看是否超过了建议的0.5V 限值。 在某些情况下、观察到这种情况会导致 FET 关断。

2. COV 不会基于电流进行恢复，仅当电芯电压超过恢复阈值时。 我建议观察器件输入引脚(而不是电池单元)的电压、以便更好地测量器件读数的电压。 如果您有权访问 EV2400、还可以使用 bqStudio 获取器件测量和寄存器的日志。

此致、

马克斯·韦博肯

您好、Max：

如果无法通过电流恢复 COV 和 CUV、是否有任何推荐的方法？ 由于 BQ76940可以手动清除故障、因此我认为 BQ76952将在检测到放电电流时恢复 COV 故障、当检测到充电电流时、CUV 也将恢复故障。 在这种情况下、即使收集到的电压值未更改、两者也可以恢复。 否则、预计放电电流的 CHG FET 可以在 COV 失效时导通、而充电电流的 DSG FET 可以在 CUV 失效时导通。
能否同时实现这两种方法？
或者其他推荐的方法。
谢谢你。