Sean、您好！
我们将使用具有隔离式电源轨的 UCC21520来驱动该 T 分支 G3和 G4。
但我们发现、在 G3正常开启状态下、存在非常大的开关尖峰、如下所示：
波形由100MHz 捕获的 BW。
如果这个尖峰会导致损坏、此处的任何建议？
谢谢
最尊重
米娅
尊敬的 Sean：
当 Q3正常导通时、电压尖峰很明显、是互补开关开关开关引起的米勒电荷导致的。
请参阅以下原理图、其中 VCCD_natural 和-2.4V_natural 的电源轨由隔离式变压器供电。
Mia 共享的波形表示 Q106B 的栅极和 ss 引脚之间的电压。
Br
为他注册。
尊敬的 Sean：
非常感谢您的建议。 我将要求供应商提供更多样片、并相应地运行更多测试。
关于项目2、我打算使用较低的电阻器进行测试。 您能否分享任何计算文档来帮助我计算谐振频率？
我们认为、C135B 有助于降低最大正米勒电压尖峰。
提醒一下、 我们最初关注的是米勒电荷引起的高压尖峰是否会导致 UCC21520损坏、因为我们已经损坏了很多 UCC21520。
IC 损坏的常见现象是 OUT 和 VSS 之间的阻抗低于正常器件。
OUT 和 VSS 之间针对正常 IC 的阻抗：大约 0.888M Ω
OUT 和 VSS 之间针对已损坏 IC 的阻抗： 大约 0.523 Ω
CH2指示损坏通道的测试结果、而 CH1显示正常通道。
Br、
为他注册。
大家好、Mia 和 Asher、
优化缓冲电阻需要您选择一个电阻器额定功率。 然后、计算在 f* cv^2下循环运行时保持在此功率范围内的缓冲电容。 然后、您必须根据添加的电容器 d (谐振频率)计算寄生电容和电感。 最后、您可以使用 TINA-TI 使用这些值创建波特图、并可以调整电阻器值、以创建与寄生电感相交的阻性负载。 这将为您提供比指南更优的值。
IC 不会被这些瞬变损坏。 其具有低阻抗输出。 只会检测这些高频电压瞬变、因为芯片上的低阻抗输出与测量点之间存在一定的串联电感。
UCC21550具有一个内部保护功能、此功能可检测输出电流并将输出状态保持至输出电流低于一个安全值。 这可防止内部电感反冲损坏输出晶体管。
