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器件型号：TPS54060 大家好、
您能否查看以下客户咨询？
使用 TPS54060、我们遇到了存在缺陷的系统、其中 VIN 和 PH 之间的静态电阻很低、内部 FET 开关被毁坏了。 可能的故障模式有哪些？
该设计(通常在低电流(mA 范围)下将20..34V 转换为3.3V)已问世多年、但只有最近的器件才发现缺陷急剧增加。 那些在随机使用时间后出现故障的示例。 由于器件的 TPS54060A 有一个额定值更高、而 TPS54060的额定值相对较低、我们考虑了 ESD 问题、并对系统进行了广泛的 ESD 测试。 然而,我们未能重现上述在现场看到的缺陷症状。
是否存在过热保护和/或过流保护不能充分发挥作用的已知(用例)情况？ 您是否希望 ESD 事件后产生此效应？ 是否有已知批次具有改变的行为？
谢谢！
弗朗茨
